пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

Новый двулучевой микроскоп для анализа отказов - Helios 5 UX DualBeam Thermo Scientific

photo
Helios 5 UX DualBeam - микроскоп для анализа отказов
Новейшие технологии, реализованные в микроскопе Helios 5 UX DualBeam, позволяют осуществлять деликатную поэтапную подготовку ламелей для высокоразрешающей С/ПЭМ и получать высококачественные изображения для 3D-анализа сложных образцов.

Анализ отказов с микроскопом Helios 5 UX DualBeam Thermo Scientific

Представляем новинку - Helios 5 UX DualBeam - двулучевой (DualBeam™)  микроскоп из семейства передовых сканирующих электронно-ионных микроскопов Thermo Scientific™ серии Helios™ 5. Микроскоп Helios 5 UX DualBeam – специальная разработка для проведения анализа отказов ИС, 3D—характеризации и подготовки ламелей. 

Микроскоп Helios 5 UX DualBeam имеет выдающиеся характеристики сфокусированного ионного и электронного пучков, уникальное программное обеспечение, беспрецедентные уровни автоматизации и простоты использования. 

Получение изображений со сверхвысоким разрешением и максимальной контрастностью на микроскопе Helios 5 UX DualBeam Thermo Scientific™ достигается благодаря наличию в составе системы инновационной электронной колонны Thermo Scientific™ Elstar™ с сильноточной технологией UC+. 

Максимально быстрая, простая и точная подготовка образцов обеспечивается ионной колонной Thermo Scientific ™ Phoenix™, оптимизированной для работы при низких ускоряющих напряжениях.

3D-and-cross-section_Helios-5-UX.png

Ключевые особенности Helios 5 UX DualBeam   

  • Максимально быстрая и удобная подготовка ультратонких образцов высочайшего качества для ПЭМ с помощью новейшей ионной колонны Phoenix, оптимизированной для работы при низких ускоряющих напряжениях;
  • Helios 5 UX.JPG

    Кратчайшее время получения информации о наноразмерных объектах со сверхвысоким разрешением посредством лучшей в своем классе электронной колонны Elstar; 
  • Монохроматор нового поколения UC+ с высоким током, обеспечивающий формирование изображений субнанометровых структур при низких энергиях пучка; 
  • Наиболее полный объем информации об образце благодаря отсутствию артефактов зарядки, высокой контрастности и четкости изображений, получаемых с помощью встроенных в колонну и расположенных под объективной линзой детекторов (всего до 7 детекторов); 
  • Трехмерное мультимодальное представление данных, с возможностью точной фокусировки на интересующей области образца, выполненное в дополнительном программном обеспечении Thermo Scientific ™ Auto Slice & View ™ 4 (AS & V4); 
  • Быстрое и прецизионное травление и осаждение сложных структур с размерами менее 10 нм; 
  • Прецизионная навигация по образцу с помощью 150-мм  предметного пьезостолика, обладающего высокой стабильностью и точностью, и встроенной навигационной камеры Thermo Scientific Nav-Cam™, что дает возможность успешно решать самые разнообразные задачи;
  • Формирование изображений без артефактов и искажений благодаря наличию инструментов удаления загрязнений и режимов Thermo Scientific DCFI, Drift Suppression и SmartScan™
.
Подробнее о микроскопе Helios 5 UX DualBeam >>>
Если Ваc заинтересовал СЭМ Helios 5 UX DualBeam или другие микроскопы Thermo Scientific, а также требуется подробная консультация по подбору подходящего микроскопа конкретно под Ваши задачи - обращайтесь к нашим специалистам. Присылайте запросы на: info@sernia.ru или позвоните нам: +7 495 204 13 17.