Снятие входных, выходных и передаточных характеристик полупроводниковых приборов и экстракция из них электрофизических параметров является одной из важнейших задач при разработке полупроводниковых приборов и микросхем. Данная задача требует одно- и двухканальных прецизионных источников, и измерителей напряжения и тока, работающих по согласованной программе измерений. Традиционно такие приборы называются характериографами (или параметрическими анализаторами), т.е. приборами для построения электрических характеристик.
Характериографы 4200-SCS Keithley комплектуются на базе модульной, полностью интегрированной платформы и предназначаются для измерения электрических параметров материалов, полупроводниковых приборов и технологических процессов. Программное обеспечение помогает пользователю выполнять сложные измерения ВАХ и ВФХ, высокоскоростные измерения импульсных ВАХ и переходных процессов и генерировать сигналы произвольной формы для полного описания тестируемых устройств. Читать подробную статью о 4200-SCS>>
Характериографы 4200-SCS Keithley комплектуются на базе модульной, полностью интегрированной платформы и предназначаются для измерения электрических параметров материалов, полупроводниковых приборов и технологических процессов. Программное обеспечение помогает пользователю выполнять сложные измерения ВАХ и ВФХ, высокоскоростные измерения импульсных ВАХ и переходных процессов и генерировать сигналы произвольной формы для полного описания тестируемых устройств. Читать подробную статью о 4200-SCS>>