пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

Новости науки и техники, выпуск №1-2020

8 800 301-13-17
+7 495 204-13-17
Новости науки и техники
Дорогие друзья! Уважаемые коллеги!

В сегодняшнем выпуске статьи и обзоры производителей контрольно-измерительного и аналитического оборудования, а также новости о нашей компании и выгодные акции на оборудование Tektronix и Keithley.

Подробности см.ниже:
ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ
alt_text alt_text
Технология Spectrum View в осциллографах Tektronix Как выбрать генератор сигналов Rohde&Schwarz?
Spectrum View - новая технология в осциллографах Tektronix, с помощью которой стал доступен многоканальный анализ и отладка встроенных систем с точной корреляцией событий во временной и частотной областях. Spectrum View, предоставляет больше информации о сигнале, чем обычный БПФ, сокращая время на тестирование и отладку системы. Статья будет полезна тем, кто хочет быстро ознакомиться с большим ассортиментом генераторов сигналов Rohde&Schwarz. В статье дается систематизированный обзор генераторов сигналов: основные типы и основные линейки приборов. При этом упоминается, на какие параметры нужно обращать внимание при выборе прибора.
Подробнее Подробнее
АНАЛИЗ ОТКАЗОВ
alt_text alt_text
Методы визуализации и анализа ИС с помощью электронного пучка Метод FIB для анализа отказов современных устройств
В статье рассказываетс о методах визуализации, использующих инжекцию заряда для анализа ИС: EBIC (Electron Beam Induced Current); RCI (Resistive Contrast Imaging); CIVA, LECIVA (Charge-Induced Voltage Alteration). Описываются принципы работы методов и приводятся примеры исследований. Статья подойдет для продвинутых пользователей. В статье рассказывается о преимуществах ФИП (FIB) при исследовании ИС. Это удобный инструмент для создания кросс-секций ИС, обеспечиващий высокую точность и контроль процесса травления, хорошую повторяемость и воспроизводимость операций. Статья будет интересна начинающим исследователям.
Подробнее Подробнее
КОНФЕРЕНЦИИ
alt_text alt_text
Кузнецовские чтения в ИНХ СО РАН в Новосибирске Онкорадиология, лучевая диагностика и терапия - 2020
3 – 5 февраля 2020 г. пройдут Кузнецовские чтения в ИНХ СО РАН в г.Новосибирске. От нашей компании в конференции примет участие Директор департамента аналитического и технологического оборудования Коренев П.А. Он выступит с докладом: «Выращивание алмазных пластин высокой чистоты методом MW-PACVD в микроволновом плазменном реакторе PLASSYS SSDR150». 14-15 февраля 2020 г. в Москве пройдет конгресс «Онкорадиология, лучевая диагностика и терапия». В рамках конгресса состоится выставка, где наша компания представит оборудование MILabs для доклинических исследований. Представитель MILabs выступит на конгрессе с докладом "High performance integrated PET, SPECT, Optical & X-ray Tomography".
Подробнее Подробнее
НАШИ НОВОСТИ И АКЦИИ
alt_text alt_text
Представительство в Санкт-Петербурге Распродажа оборудования Tektronix и Keithley
Сообщаем об открытии представительства «Сернии Инжиниринг» в г.Санкт-Петербурге по адресу: Лиговский пр., дом 270, лит. Б, БЦ «Лиговка», офис 2201, тел.+7(812) 509 20 91. Теперь компаниям Санкт-Петербурга и Северо-Западного федерального округа станет еще удобнее сотрудничать с нами! В связи с обновлением складских позиций мы предлагаем контрольно-измерительные приборы производства Tektronix и Keithley по сниженным ценам: осциллографы, источники-измерители, нановольтметры, мультиметры и пр. Все приборы НОВЫЕ. Количество ограничено. Поторопитесь с покупкой!
Подробнее Подробнее
ООО«Серния Инжиниринг» — измерительное / аналитическое / технологическое оборудование
alt_text
Тел.: +7 (495) 204-13-17
Факс: +7 (495) 204-13-17
Эл. почта: info@sernia.ru
Часы работы: ПН – ПТ 10:00–19:00
Сайт: www.sernia.ru
Если Вы не хотите получать новостные рассылки от нашей компании, отправьте,
пожалуйста, нам сообщение на эл.адрес: info@sernia.ru