пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

Новости науки и техники, выпуск №6-2019



8 800 301-13-17
+7 495 204-13-17
Новости науки и техники
Здравствуйте, дорогие друзья,
уважаемые коллеги!
В сегодняшнем выпуске:

- новости производителей контрольно-измерительного оборудования и оборудования для микроскопии;

- статья о сравнении методов ЭДС (EDS) и СХПЭЭ (EELS) в микроскопии;

- результаты конкурса "Failure Analysis" на знание оборудования и методов для анализа отказов;

- приглашение на демонстрацию работы системы тестирования полупроводниковых приборов и материалов на базе параметрического анализатора и зондовой станции;

- распродажа контрольно-измерительного оборудования Tektronix из наличия от 60 000 руб.

Подробности см. ниже:


ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ
alt_text
alt_text
Новые серии осциллографов Tektronix
Новый измеритель мощности Rohde & Schwarz
В июне 2019 компания Tektronix добавила к своей линейке приборов новые осциллографы – MDO серии 3 и MSO серии 4. Новые осциллографы относятся к среднему ценовому диапазону, имеют большие сенсорные дисплеи, интуитивно понятный интерфейс, отличные характеристики и расширенные функции анализа.Осциллографы MDO серии 3 и MSO серии 4 дополняют ассортимент осциллографов Tektronix.
Компания Rohde & Schwarz разработала новый измеритель мощности ВЧ-сигналов R&S NRX. R&S NRX имеет до 4-х измерительных каналов, удобный функционал конфигурирования и проведения измерений, графический интерфейс на базе сенсорного экрана и выполняет запускаемые и синхронизированные многоканальные измерения с использованием различных датчиков мощности.
Подробнее
Подробнее


АНАЛИЗ ОТКАЗОВ
alt_text
alt_text
Детекторы ЭДС и СХПЭЭ для энергодисперсионного анализа
Установки лазерной декапсуляции FALIT от Control Laser
Элементный анализ в просвечивающем электронном микроскопе может производиться с помощью энергодисперсионной спектроскопии ЭДС (EDS), либо с помощью спектроскопии характеристических потерь энергии электронов СХПЭЭ (EELS). В сегодняшней статье разберем подробно и сравним каждый из методов.
Компания Control Laser расширила линейку установок лазерной декапсуляции серии FALIT. Данная серия создана для применения в лабораториях анализа отказов и лабораториях судебно-медицинской экспертизы.Теперь в серии FALIT насчитывается 7 моделей для лазерной декапсуляции, каждая из которых имеет свою специализацию.
Подробнее
Подробнее


ОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ МИКРОСКОПИИ
alt_text
alt_text
Explorer 4 – СЭМ для производственных лабораторий
TMC TableTop CSP - антивибрационная платформа
Компания Thermo Scientific разработала новую серию электронных микроскопов, предназначенных для контроля качества материалов. Explorer 4 - это СЭМ с анализатором EDX, предназначенный для статистического контроля процесса распределения частиц. Микроскоп отлично подойдет для контроля производственных процессов, поиска инородных материалов или анализа множества частиц.
Компания TMC - мировой инновационный лидер в области высокоточной и эффективной виброизоляции - вновь продолжила выпуск бюджетных компактных моделей антивибрационных платформ TMC TableTop CSP, предназначенных для использования совместно с прецизионным лабораторным оборудованием в небольших исследовательских лабораториях.
Подробнее
Подробнее


МЕРОПРИЯТИЯ И КОНКУРСЫ
alt_text
alt_text
Публикуем результаты викторины "Failure analysis": правильные ответы и имена победителей
Демонстрация системы для тестирования полупроводниковых материалов и приборов
С 24 МАЯ по 24 ИЮНЯ 2019 мы провели викторину "Failure analysis" на знание современных методов и оборудования для анализа отказов в микроэлектронике. Правильно ответили на вопросы только 2 участника викторины: Матыкин А.И. и Беспалов С.С. Искреннее поздравляем победителей! Вас ожидают призы:
- 1-место - сумка для ноутбука,
- 2-место - рюкзак для ноутбука.
Правильные ответы на вопросы викторины Вы найдете на страницах нашего сайта www.sernia.ru.

Для тех, кто хочет бесплатно прокачать свои знания в технике, каждый вторник и четверг мы будем проводить демонстрацию работы системы тестирования полупроводниковых приборов и материалов на базе параметрического анализатора Keithley 4200A SCS и зондовой станции Semiprobe. Вы сможете не только ознакомиться с современными методами измерения ВАХ, ВФХ и импульсных ВАХ, но и бесплатно протестировать свои образцы: транзисторы, диоды, резисторы, элементы на пластине.
Подробнее
Подробнее

ООО«Серния Инжиниринг» — измерительное / аналитическое / технологическое оборудование
alt_text

Тел.: +7 (495) 204-13-17
Факс: +7 (495) 204-13-17
Эл. почта: info@sernia.ru
Часы работы: ПН – ПТ 10:00–19:00
Сайт: www.sernia.ru
Если Вы не хотите получать новостные рассылки от нашей компании, отправьте,
пожалуйста, нам сообщение на эл.адрес: info@sernia.ru