Мастер-класс по тестированию полупроводниковых приборов и материалов
с использованием измерительных систем Keithley
18 сентября 2019, 10:00 – 15:00
Российское представительство Tektronix International, Inc совместно с ООО"Серния Инжиниринг" приглашают Вас посетить мастер-класс по тестированию полупроводниковых приборов и материалов с использованием измерительных систем Keithley. Вы сможете не только ознакомиться с процессом измерения ВАХ, ВФХ и импульсных ВАХ, но и протестировать свои образцы.
ОПИСАНИЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНОГО КОМПЛЕКСА
Комплекс, состоящий из параметрического анализатора Keithley 4200А-SCS и зондовой станции Semiprobe PS4L M6, позволяет:
- производить измерения характеристик: пассивных компонентов (резисторов, конденсаторов, МОП-конденсаторов, элементов межсоединений и т.д.), активных компонентов (диодов, стабилитронов, биполярных транзисторов, МОП-транзисторов, светодиодов, лазерных диодов и т.д.), электронных микросхем, дисплеев на органических светодиодах, солнечных батарей, субмикронных КМОП устройств, а также устройств со сверхпроводниками;
- математически анализировать полученные результаты и выводить результаты измерений в табличном и графическом виде.
ДРУГИЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ KEITHLEY
Помимо параметрического анализатора спектра 4200A-SCS, Вы также сможете увидеть и самостоятельно поработать с:
-
Прецизионным источником-измерителем Keithley 2636B, с помощью которого Вы смогли бы произвести характеризацию следующих дискретных и пассивных компонентов: двухэлектродных - датчики, варисторы, диоды, стабилитроны, конденсаторы, термисторы; трехэлектродных - транзисторы биполярные с малым сигналом перехода (BJT), полевые транзисторы (FET); оптоэлектронных устройств, таких как: светодиоды, лазерные диоды, сверхяркие светодиоды (HBLED), полупроводниковые лазеры с вертикальным резонатором и поверхностным излучением (VCSEL); солнечных батарей.
-
Измерительным комплексом для измерения удельного сопротивления диэлектрических материалов до 200 ГОм, состоящий из источника напряжения Keithley 2461 + электрометра Keithley 6514 + тестовой камеры Keithley 8009. На данном стенде Вы сможете измерить как поверхностное, так и объёмное удельное сопротивление диэлектрических материалов. Размеры тонколистных образцов: от 65 до 100 мм в диаметре (или квадратный образец до 100х1000 мм) и до 3 мм в толщину.
Расписание мероприятия
|
10:00 – 11:30
11:30 – 15:00 |
Измерение ВАХ, ВФХ и импульсных ВАХ
Доступ к представленному оборудованию, возможность задать
вопросы и обсудить потребности c техническими специалистами |
КАК ДОБРАТЬСЯ
Проезд до метро Университет: От метро одна остановка на любом транспорте (кроме 908 автобуса) или пешком.
Вход во внутренний двор Физического факультета через железные ворота КПП со стороны улицы Лебедева. Как войдете, поверните направо, пройдите прямо 50 м до крыльца стр.1с2а.
Ссылка на Яндекс Карты: https://yandex.ru/maps/-/CCCkJA4B