Метод когерентной корреляционной интерферометрии
Метод когерентной корреляционной интерферометрии для измерения тонких пленок
18 декабря 2015
Обзор антенных мачт и штативов
Антенные мачты и штативы применяются для крепления различного типа антенн при проведении испытаний на ЭМС и других измерений.
В настоящее время крупные производители антенных аксессуаров предусматривают различные варианты конструкций антенных мачт и штативов для проведения испытаний в камерах закрытого и открытого типов.
12 ноября 2015
Обзор измерительных антенн A.H.Systems
При решении измерительных задач необходимы антенны различного типа. Набор антенны A.H.Systems перекрывают весь исследуемый диапазон частот.
14 января 2015
Обзор источников-измерителей (SMU) Keithley
Все источники-измерители (SMU) компании Keithley могут выполнять функции источника напряжения с измерением тока и источника тока с измерением напряжения. Некоторые модели позволяют также измерять сопротивление.
26 января 2016
Обзор мультиметра DMM7510 Keithley
Новые технологии – новые преимущества с прецизионным сэмплирующим мультиметром DMM7510
18 декабря 2015
Обнаружение и захват аномалии сигнала
Если обнаружение и захват аномалий сигнала, является важнейшей частью процесса отладки, у нас есть отличное решение для Вас. Узнайте, как можно обнаружить аномалию сигнала при помощи осциллографа.
30 ноября 2015
Однофотонная эмиссионная компьютерная томография ОФЭКТ/SPECT
Статья приведена с сокращениями.
18 декабря 2015
Осциллографы смешанных сигналов
Нужно провести анализ смешанного сигнала? Нет Проблем! Осциллограф смешанных сигналов из серии MDO4000 поможет!
21 января 2015
Применение анализаторов спектра реального времени
В примере сценария утилиты H500 Command Macro Tool используются маски спектра в режиме DPX для сканирования всего диапазона ISM и автоматического захвата скачков/импульсов/переходных процессов в этом диапазоне.
17 декабря 2015
Системы для подавления электромагнитных помех
Элекромагнитные помехи искажают СЭМ-изображения? Система АСПЭМ решит ваши проблемы!
17 декабря 2015
Сканирующая электронная микроскопия
Сканирующая электронная микроскопия является одним из наиболее широко используемых для диагностики наноматериалов и наноструктур методов. Предел разрешения сканирующего электронного микроскопа приближается к нескольким нанометрам, а увеличение легко варьируется от ~10 до более 300000.
17 декабря 2015
Тестирование A-GPS
Процедура OTA тестирования сотовых и Wi-Fi мобильных устройств на протяжении многих лет регламентируется различными международными организациями, такими как CTIA, 3GPP и Wi-Fi Alliance. Тестирование выполняется в рабочем объеме полностью безэховой камеры (БЭК) при помощи специализированого оборудования для создания необходимых условий.
30 ноября 2015
Тестирование анализатора спектра RSA306 Tektronix
RSA306 - компактный, удобный USB анализатор спектра
17 декабря 2015
Усилители мощности ЭМС
Широкополосные усилители мощности применяют для усиления сигнала, если выходная мощность генератора высокочастотных сигналов недостаточна.
18 декабря 2015
Фокусированный ионный пучок (ФИП)
Фокусированный ионный пучок - многофункциональный инструмент в нанотехнологии.
17 декабря 2015