Системы плазменной очистки
Обзор эффективности использования Henniker Plasma на примере пористой углеродной плёнки в просвечивающем микроскопе.
31 Марта 2016
Сканирующая электронная микроскопия
Сканирующая электронная микроскопия является одним из наиболее широко используемых для диагностики наноматериалов и наноструктур методов. Предел разрешения сканирующего электронного микроскопа приближается к нескольким нанометрам, а увеличение легко варьируется от ~10 до более 300000.
17 Декабря 2015
Тестирование A-GPS
Процедура OTA тестирования сотовых и Wi-Fi мобильных устройств на протяжении многих лет регламентируется различными международными организациями, такими как CTIA, 3GPP и Wi-Fi Alliance. Тестирование выполняется в рабочем объеме полностью безэховой камеры (БЭК) при помощи специализированого оборудования для создания необходимых условий.
30 Ноября 2015
Тестирование анализатора спектра RSA306 Tektronix
RSA306 - компактный, удобный USB анализатор спектра
17 Декабря 2015
Узнайте о новых возможностях цифровых микроскопов
Возможности цифровых микроскопов, о которых мы еще мало знаем.
20 Июля 2016
Усилители мощности ЭМС
Широкополосные усилители мощности применяют для усиления сигнала, если выходная мощность генератора высокочастотных сигналов недостаточна.
18 Декабря 2015
Устранение неполадок, связанных с ЭМС при помощи MDO4000 Tektronix
Поиск и устранение неполадок, связанных с ЭМС, при помощи MDO4000 Tektronix
18 Декабря 2015
Фокусированный ионный пучок (ФИП)
Фокусированный ионный пучок - многофункциональный инструмент в нанотехнологии.
17 Декабря 2015
Экранированные двери ETS-Lindgren
Экранированные двери ETS-Lindgren – надежная защита Ваших сигналов
17 Декабря 2015
Электронная микроскопия
В электронной микроскопии изображение получают с помощью электронов, прошедших сквозь объект, либо отраженных от него, либо им испущенных. Электронные пучки формируются электронно-оптическими системами с использованием магнитных или электростатических линз.
17 Декабря 2015