пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

Новые двулучевые микроскопы серии Helios 5 PFIB DualBeam Thermo Scientific

предыдущий следующий
28 Августа 2020
photo
Двулучевые микроскопы серии Helios 5 PFIB DualBeam Thermo Scientific

Микроскопы серии Helios 5 PFIB DualBeam Thermo Scientific

3D EBSD reconstruction.png

Новые двулучевые (DualBeam™) сканирующие электронно-ионные микроскопы Thermo Scientific™ серии Helios™ 5 PFIB позволяют получать стабильные, воспроизводимые результаты в широком диапазоне востребованных применений – например, подготовка проб и образцов, подповерхностная и 3D- характеризация. 

Получение таких результатов на микроскопах Thermo Scientific™ серии Helios™ 5 PFIB стало возможным благодаря применению в их составе ксеноновой плазмы в сочетании с технологией фокусированного ионного пучка (FIB). 

Модель микроскопа Helios 5 Hydra DualBeam идет еще дальше, имея возможность использовать четыре различных типа ионов - кислород, аргон, ксенон и азот - поэтому возможно выбрать конкретный ионный пучок для достижения наилучших результатов для вашего образца. 

Расширенные возможности автоматизации микроскопов  Thermo Scientific™ серии Helios™ 5 PFIB DualBeam позволяют выполнять трудоемкие задачи – например, трехмерный анализ в ночное время и по выходным. Это освобождает микроскоп для других целей в стандартные часы работы.

3D reconstruction.png

Helios 5 PFIB DualBeam Thermo Scientific

Helios 5_front.png

Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam- сканирующий электронный микроскоп с плазменным фокусированным ионным пучком (FIB-SEM). Микроскоп обеспечивает непревзойденные возможности для 3D-характеризации больших объемов, подготовки образцов в режиме STEM без галлия (Ga) и точной микрообработки. 

Helios 5 PFIB DualBeam - модель пятого поколения ведущей в отрасли линейки микроскопов Helios DualBeam. Для обеспечения улучшенных характеристик сфокусированного ионного и электронного пучка микроскоп сочетает в себе новую колонну PFIB и монохроматизированную колонну Thermo Scientific Elstar SEM. 

Helios 5 PFIB DualBeam также имеет интуитивно понятное программное обеспечение, беспрецедентный уровень автоматизации и простоту использования, что позволяет наблюдать и анализировать соответствующие подповерхностные объемы.

Ключевые особенности Helios 5 PFIB DualBeam

  • Изображение без артефактов (интегрированное управление чистотой образцов и специальные режимы визуализации SmartScan™ и DCFI).

  • Точная навигация по образцу (150-мм пьезоэлемент и дополнительная встроенная камера Nav-Cam).

  • Полная информация об образце (до 6 встроенных детекторов в столбцах и под линзами).

  • Подготовка проб для режимов STEM и TEM без использования галлия.

  • Расширенная автоматизация подготовки проб и поперечное сечение TEM на нескольких площадках in situ и ex situ с ПО AutoTEM 5.

  • Ксеноновая плазменная колонка FIB нового поколения 2,5 мкА.

  • Мультимодальная геологическая и трехмерная информация.

  • Субнанометровые характеристики при низких энергиях.

  • Расширенные возможности осаждения и травления на системах FIB/SEM с дополнительными системами подачи газа Thermo Scientific MultiChem или GIS.

  • Короткое время получения наноразмерной информации (технология SmartAlign и FLASH).

S_TEM samples.png

Подробнее о микроскопе Helios 5 PFIB DualBeam >>>

Если Ваc заинтересовал СЭМ Helios 5 PFIB DualBeam или другие микроскопы Thermo Scientific, а также требуется подробная консультация по подбору подходящего микроскопа конкретно под Ваши задачи - обращайтесь к нашим специалистам. Присылайте запросы на: info@sernia.ru или позвоните нам: +7 495 204 13 17.