Микроскопы серии Helios 5 PFIB DualBeam Thermo Scientific
Новые двулучевые (DualBeam™) сканирующие электронно-ионные микроскопы Thermo Scientific™ серии Helios™ 5 PFIB позволяют получать стабильные, воспроизводимые результаты в широком диапазоне востребованных применений – например, подготовка проб и образцов, подповерхностная и 3D- характеризация.
Получение таких результатов на микроскопах Thermo Scientific™ серии Helios™ 5 PFIB стало возможным благодаря применению в их составе ксеноновой плазмы в сочетании с технологией фокусированного ионного пучка (FIB).
Модель микроскопа Helios 5 Hydra DualBeam идет еще дальше, имея возможность использовать четыре различных типа ионов - кислород, аргон, ксенон и азот - поэтому возможно выбрать конкретный ионный пучок для достижения наилучших результатов для вашего образца.
Расширенные возможности автоматизации микроскопов Thermo Scientific™ серии Helios™ 5 PFIB DualBeam позволяют выполнять трудоемкие задачи – например, трехмерный анализ в ночное время и по выходным. Это освобождает микроскоп для других целей в стандартные часы работы.
Helios 5 PFIB DualBeam Thermo Scientific
Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam- сканирующий электронный микроскоп с плазменным фокусированным ионным пучком (FIB-SEM). Микроскоп обеспечивает непревзойденные возможности для 3D-характеризации больших объемов, подготовки образцов в режиме STEM без галлия (Ga) и точной микрообработки.
Helios 5 PFIB DualBeam - модель пятого поколения ведущей в отрасли линейки микроскопов Helios DualBeam. Для обеспечения улучшенных характеристик сфокусированного ионного и электронного пучка микроскоп сочетает в себе новую колонну PFIB и монохроматизированную колонну Thermo Scientific Elstar SEM.
Helios 5 PFIB DualBeam также имеет интуитивно понятное программное обеспечение, беспрецедентный уровень автоматизации и простоту использования, что позволяет наблюдать и анализировать соответствующие подповерхностные объемы.
Ключевые особенности Helios 5 PFIB DualBeam
-
Изображение без артефактов (интегрированное управление чистотой образцов и специальные режимы визуализации SmartScan™ и DCFI).
-
Точная навигация по образцу (150-мм пьезоэлемент и дополнительная встроенная камера Nav-Cam).
-
Полная информация об образце (до 6 встроенных детекторов в столбцах и под линзами).
-
Подготовка проб для режимов STEM и TEM без использования галлия.
-
Расширенная автоматизация подготовки проб и поперечное сечение TEM на нескольких площадках in situ и ex situ с ПО AutoTEM 5.
-
Ксеноновая плазменная колонка FIB нового поколения 2,5 мкА.
-
Мультимодальная геологическая и трехмерная информация.
-
Субнанометровые характеристики при низких энергиях.
-
Расширенные возможности осаждения и травления на системах FIB/SEM с дополнительными системами подачи газа Thermo Scientific MultiChem или GIS.
-
Короткое время получения наноразмерной информации (технология SmartAlign и FLASH).
Подробнее о микроскопе Helios 5 PFIB DualBeam >>>
Если Ваc заинтересовал СЭМ Helios 5 PFIB DualBeam или другие микроскопы Thermo Scientific, а также требуется подробная консультация по подбору подходящего микроскопа конкретно под Ваши задачи - обращайтесь к нашим специалистам. Присылайте запросы на: info@sernia.ru или позвоните нам: +7 495 204 13 17.