пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

Элекромагнитные помехи искажают СЭМ-изображения? Система АСПЭМ решит ваши проблемы!

Элекромагнитные помехи искажают СЭМ-изображения? Система АСПЭМ решит ваши проблемы!
photo
АСПЭМ - Активная система подавления электромагнитных помех

Необходимость более точного изображения образца в таких областях, как материаловедение, микроэлектроника и биологические науки существенно увеличила требования электронной микроскопии.

Ключевым фактором для всех микроскопов остается относительная стабильность потока заряженных частиц и защита от электромагнитных помех (ЭМП). Самая большая проблема исходит от переменного магнитного поля, создаваемого силовыми кабелями, частотой 50 Гц.
Система АСПЭМ является высокоэффективной системой для активного подавления паразитных магнитных полей и для создания настраиваемых полей. Система сочетает в себе магнитометры, блок управления и катушки Гельмгольца. АСПЭМ разрабатывается в зависимости от требований каждого конкретного случая.

Система АСПЭМ идеально подходит для сканирующих и электронных микроскопов, систем электронно-лучевой литографии, электронно-лучевых измерительных приборов, и других приборов, которые используют электронный луч.

Смотреть более подробную информацию об АСПЭМ>>