пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

Новости науки и техники, выпуск №2, 2019

предыдущий следующий
28 Февраля 2019
8 800 301-13-17
+7 495 204-13-17
Новости науки и техники
Уважаемые коллеги!
Дорогие наши читатели!

В сегодняшнем выпуске публикуем новинки КИП, новости аналитического оборудования, а также статью про механизмы отказов в микроэлектронике.

Для инженеров, желающих проверить знания современного контрольно-измерительного оборудования, мы проводим конкурс "Продвинутый инженер". Первые 10 участников, правильно ответившие на вопросы, получат призы.

Для тех, кто хочет выгодно приобрести контрольно-измерительное оборудование Tektronix, посмотрите действующие акции на нашем сайте.

Подробности в сегодняшнем выпуске:
КОНТРОЛЬНО-ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ
alt_text alt_text
AWG70000B - новый генератор сигналов произвольной формы Новинка 2019 от R&S – векторный анализатор цепей серии ZNA
19 февраля компания Tektronix представила новый генератор сигналов произвольной формы AWG70000B. AWG70000B обладает увеличенным объёмом памяти и новыми функциональными возможностями для тестирования сложных систем РЭБ и средств беспроводной связи при использовании сценариев тестирования с динамическим изменением последовательностей сигналов. Новые векторные анализаторы цепей R&S ZNA сочетают в себе отличные ВЧ характеристики и уникальную аппаратную архитектуру прибора, в основе которой заложен принцип максимально быстрого, простого совершения измерений и настройки их параметров полностью в режиме сенсорного управления. R&S ZNA имеют эксклюзивное новшество – концепцию управления «от испытуемого устройства».
Подробнее Подробнее
АНАЛИТИЧЕСКОЕ ОБОРУДОВАНИЕ
alt_text alt_text
ExSolve Wafer-двухлучевой микроскоп для подготовки TEM-образцов Классификация механизмов отказа полупроводниковых устройств
Компания Thermo Scientific, лидер среди производителей аналитического оборудования для научных исследований, разработала электронно-ионный микроскоп ExSolve DualBeam ™. ExSolve - это автоматизированный высокопроизводительный микроскоп для изготовления образцов с целью последующего их исследования методом просвечивающей электронной микроскопии (TEM). Статья посвящена механизму отказов электронных устройств. Будет полезна технологам на предприятиях, производящих микроэлектронные устройства. В статье представлены наиболее распространенные отказы полупроводниковых устройств. Режимы отказов полупроводниковых устройств, как правило, подразделяются на разрывы цепей, короткие замыкания, деградацию и пр. Подробности читайте в статье.
Подробнее Подробнее
КОНКУРСЫ И АКЦИИ
alt_text alt_text
КОНКУРС "ПРОДВИНУТЫЙ ИНЖЕНЕР" ДЕЙСТВУЮЩИЕ АКЦИИ TEKTRONIX
В этом году мы продолжаем проводить конкурсы для наших подписчиков. С 20 февраля по 22 марта 2019 г. мы проводим конкурс на знание современных контрольно-измерительных приборов. Для участия необходимо подписаться на наши новости, заполнить заявку и ответить на все вопросы о контрольно-измерительном оборудовании, размещенном на нашем сайте. Если Вы выгодно хотите купить оборудование Tektronix, рекомендуем ознакомиться с действующими акциями: на осциллографы серии TBS1000, TBS1000B-EDU и TBS2000; бесплатные модули для параметрического анализатора 4200A Keithley; бесплатный апгрейд при покупке осциллографов MDO3000 / MDO4000C, распродажа оборудования по самым низким ценам.
Подробнее Подробнее
Все выпуски новостей
ООО«Серния Инжиниринг» — измерительное / аналитическое / технологическое оборудование
alt_text
Тел.: +7 (495) 204-13-17
Факс: +7 (495) 204-13-17
Эл. почта: info@sernia.ru
Часы работы: ПН – ПТ 10:00–19:00
Сайт: www.sernia.ru
Если Вы не хотите получать новостные рассылки от нашей компании, отправьте,
пожалуйста, нам сообщение на эл.адрес: info@sernia.ru