пн-пт  10:00 - 19:00

Новости науки и техники, выпуск №9-2018

предыдущий следующий
27 сентября 2018
8 800 301-13-17
+7 495 204-13-17
Новости науки и техники
Здравствуйте, дорогие друзья,
уважаемые коллеги!
В сегодняшнем выпуске публикуем обзоры аналитического оборудования и оборудования для ЭМС для проведения исследований и испытаний в научных и производственных лабораториях.

Публикуем также результаты розыгрыша призов среди участников акции "Читай новости - получай призы".

И приглашаем всех посетить наш стенд на выставке Testing&Control 2018, где будут представлены решения для проверки и контроля качества электронных компонентов .
АНАЛИТИЧЕСКОЕ ОБОРУДОВАНИЕ
alt_text alt_text
Использование атомно-силовой микроскопии в промышленности Как проверить качество полупроводника с помощью зондовых технологий?
Атомно-силовые микроскопы широко применяется в исследованиях, так как обеспечивает наблюдения с высоким разрешением на атомном и нанометровом уровне не только в вакууме, но и в воздухе, и в жидкостях. Предлагаем ознакомиться с 2-мя моделями АСМ - начального (бюджетного) и экспертного уровней сложности - для исследований таких материалов как полимеры, полупроводники, композитные материалы. Зондовые измерения все больше становятся обязательной частью процесса ОТК на производстве в микроэлектронике. Предлагаем ознакомиться с зондовой станцией Semiprobe PS4L M-6, с помощью которой можно проводить межоперационный контроль, параметрический и функциональный анализ готового продукта; проверять основные параметры разрабатываемого изделия перед сборкой.
Подробнее Подробнее
ОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ ЭМС
alt_text alt_text
Обзор токовых пробников ETS-Lindgren Система видеонаблюдения для экранированных камер
Предлагаем ознакомиться с обзором токовых пробников (токосъёмников) ETS-Lindgren с диапазоном частот от 20 Гц до 1000 МГц. Данное оборудование необходимо тем, кто проводит тесты на предварительное соответствие, а также измерения радиочастотного тока в кабеле без прямого подключения. Система видеонаблюдения для установки в экранированную или безэховую камеры. Необходима для визуального мониторинга за внешним состоянием испытуемого устройства при проведении испытаний на устойчивость к воздействию сильных электромагнитных полей.
Подробнее Подробнее
ВЫСТАВКИ, РОЗЫГРЫШИ ПРИЗОВ
alt_text alt_text
Решения для проверки и контроля качества электронных компонентов Публикуем результаты розыгрыша призов от 26 сентября 2018
Приглашаем посетить наш стенд E421 на выставке Testing&Control. На стенде мы представим решения для контроля качества электронных компонентов, а именно оборудование для оценки электрических характеристик и функционального контроля: параметрические анализаторы, зондовые станции, оборудование для электронно-лучевого тестирования. Публикуем результаты 3-го розыгрыша призов среди участников акции "Читай новости - получай призы". Обладателями призов стали: Борисов А.А., Усманов Р.Р., Прудников Е.А., Самойленко В.О. Поздравляем победителей! Следующий розыгрыш призов состоится 26 декабря. Если Вы тоже хотите участвовать в акции, зарегистрируйтесь на сайте
Подробнее Подробнее
Все выпуски новостей
ООО«Серния Инжиниринг» — измерительное / аналитическое / технологическое оборудование
alt_text
Тел.: +7 (495) 204-13-17
Факс: +7 (495) 204-13-17
Эл. почта: info@sernia.ru
Часы работы: ПН – ПТ 10:00–19:00
Сайт: www.sernia.ru
Если Вы не хотите получать новостные рассылки от нашей компании, отправьте,
пожалуйста, нам сообщение на эл.адрес: info@sernia.ru