пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

Новости науки и техники, выпуск №4-2018

Новости науки и техники
Здравствуйте, дорогие друзья,
уважаемые коллеги!
Поздравляем Вас с 1 Мая - праздником Весны, Мира, Труда! Желаем Вам весеннего настроения, расцвета творческих сил, богатства мыслей, энтузиазма во всех начинаниях и грандиозных свершений!

А чтобы помочь Вам в реализации грандиозных планов, мы предлагаем ознакомиться с новинками зарубежных
производителей измерительного и аналитического
оборудования, конференциями, семинарами и полезной информацией в помощь технологам.
В сегодняшнем выпуске:
Измерения
alt_text alt_text
Новый цифровой мультиметр Keithley DMM6500 с сенсорным экраном и разрядностью 6,5 Новая измерительная система со сбором и регистрацией данных Keithley DAQ6510
С помощью мультиметра Keithley DMM6500 с сенсорным экраном и разрядностью 6,5 Вы сможете устранять неполадки сложнейших схем. 8 диапазонов позволяют измерять ток от 10 пА до 10 А; 15 типов измерений; встроенная функция оцифровки с частотой дискретизации 1 Мвыб/с. Keithley DAQ6510 - многофункциональная система для измерений и оцифровки электрических параметров устройств, контроля температурных режимов тех.процессов, управления работой оборудования, для мониторинга процессов со сбором и регистрацией данных.
Подробнее Подробнее
Материаловедение и микроэлектроника
alt_text alt_text
Новый сканирующий электронный микроскоп Thermo Fisher Scientific Методы для локализации анализа отказов в микроэлектронике
Компания Thermo Fisher Scientific™ выпустила новую серию сканирующих электронных микроскопов - PRISMA SEM. Серия выпускается в двух модификациях: PRISMA E SEM и PRISMA EХ SEM. Новая серия заменит модели сканирующих электронных микроскопов бренда FEI - Quanta 250, Quanta 450, Quanta 650 и Q250. В зависимости от типа дефекта чипа применяются различные методы локализации, которые можно классифицировать по следующим типам:
- электронно- и ионно-лучевые;
- зондовые и атомно-силовые;
- оптические.
В данной статье разговор пойдет об электронно- и ионно-лучевых методах, применяемых для локализации отказов.
Подробнее Подробнее
Мероприятия отрасли
alt_text alt_text
Семинар "Современные методы декапсуляции для анализа отказов" Научно-техническая конференция "Метрология в радиоэлектронике"
Приглашаем на семинар по методам декапсуляции для анализа отказов. На семинаре расскажут о современных методах вскрытия чипов на основе работы оборудования Nisene, Control Laser. Данные технологии представляют особый интерес для специалистов, занятых в области проверки контроля качества в микроэлектронике. Ежегодная научно-техническая конференция "Метрология в радиоэлектронике" пройдет в парк-отеле "Морозовка" в период с 19 по 21 июня. В рамках конференции пройдет выставка оборудования, где компания "Серния Инжиниринг" представит новинки контрольно-измерительного оборудования мировых брендов Tektronix, Keithley, ETS-Lindgren.
Подробнее Подробнее
Акции и розыгрыши призов
alt_text alt_text
Контрольно-измерительное оборудование Tektronix со скидками до 70% Читай новости - получай призы! Акция для тех, кто читает наши новости
Предлагаем приобрести восстановленное контрольно-измерительное оборудование Tektronix по системе Encore со скидками до 70%! Оборудование Tektronix Encore полностью сертифицировано, имеет заводскую калибровку и оснащено стандартным комплектом аксессуаров. Скидка в зависимости от типа оборудования. "Чтение - вот лучшее учение!". Следуя этой традиции, мы запустили акцию "Читай новости - получай призы!" Чтобы стать участником акции (для тех, кто еще не зарегистрировался), Вам нужно заполнить на нашем сайте регистрационную форму до 22 июня и читать наши новостные выпуски. 2-й розыгрыш призов состоится 26 июня 2018 года. Результаты 1-го розыгрыша см. на сайте.
Подробнее Подробнее
Все выпуски новостей
ООО«Серния Инжиниринг» — измерительное / аналитическое / технологическое оборудование
alt_text
Тел.: +7 (495) 204-13-17
Факс: +7 (495) 204-13-17
Эл. почта: info@sernia.ru
Часы работы: ПН – ПТ 10:00–19:00
Сайт: www.sernia.ru