|
Здравствуйте, дорогие друзья,
уважаемые коллеги!
|
Поздравляем Вас с 1 Мая - праздником Весны, Мира, Труда! Желаем Вам весеннего настроения, расцвета творческих сил, богатства мыслей, энтузиазма во всех начинаниях и грандиозных свершений!
А чтобы помочь Вам в реализации грандиозных планов, мы предлагаем ознакомиться с новинками зарубежных
производителей измерительного и аналитического
оборудования, конференциями, семинарами и полезной информацией в помощь технологам.
|
|
В сегодняшнем выпуске:
|
|
|
|
|
|
|
Измерения
|
|
|
|
|
Новый цифровой мультиметр Keithley DMM6500 с сенсорным экраном и разрядностью 6,5
|
|
Новая измерительная система со сбором и регистрацией данных Keithley DAQ6510
|
|
С помощью мультиметра Keithley DMM6500 с сенсорным экраном и разрядностью 6,5 Вы сможете устранять неполадки сложнейших схем. 8 диапазонов позволяют измерять ток от 10 пА до 10 А; 15 типов измерений; встроенная функция оцифровки с частотой дискретизации 1 Мвыб/с.
|
|
Keithley DAQ6510 - многофункциональная система для измерений и оцифровки электрических параметров устройств, контроля температурных режимов тех.процессов, управления работой оборудования, для мониторинга процессов со сбором и регистрацией данных.
|
|
Подробнее
|
|
Подробнее
|
|
|
|
|
|
|
Материаловедение и микроэлектроника
|
|
|
|
|
Новый сканирующий электронный микроскоп Thermo Fisher Scientific
|
|
Методы для локализации анализа отказов в микроэлектронике
|
|
Компания Thermo Fisher Scientific™ выпустила новую серию сканирующих электронных микроскопов - PRISMA SEM. Серия выпускается в двух модификациях: PRISMA E SEM и PRISMA EХ SEM. Новая серия заменит модели сканирующих электронных микроскопов бренда FEI - Quanta 250, Quanta 450, Quanta 650 и Q250.
|
|
В зависимости от типа дефекта чипа применяются различные методы локализации, которые можно классифицировать по следующим типам:
- электронно- и ионно-лучевые;
- зондовые и атомно-силовые;
- оптические.
В данной статье разговор пойдет об электронно- и ионно-лучевых методах, применяемых для локализации отказов.
|
|
Подробнее
|
|
Подробнее
|
|
|
|
|
|
|
Мероприятия отрасли
|
|
|
|
|
Семинар "Современные методы декапсуляции для анализа отказов"
|
|
Научно-техническая конференция "Метрология в радиоэлектронике"
|
|
Приглашаем на семинар по методам декапсуляции для анализа отказов. На семинаре расскажут о современных методах вскрытия чипов на основе работы оборудования Nisene, Control Laser. Данные технологии представляют особый интерес для специалистов, занятых в области проверки контроля качества в микроэлектронике.
|
|
Ежегодная научно-техническая конференция "Метрология в радиоэлектронике" пройдет в парк-отеле "Морозовка" в период с 19 по 21 июня. В рамках конференции пройдет выставка оборудования, где компания "Серния Инжиниринг" представит новинки контрольно-измерительного оборудования мировых брендов Tektronix, Keithley, ETS-Lindgren.
|
|
Подробнее
|
|
Подробнее
|
|
|
|
|
|
|
Акции и розыгрыши призов
|
|
|
|
|
Контрольно-измерительное оборудование Tektronix со скидками до 70%
|
|
Читай новости - получай призы! Акция для тех, кто читает наши новости
|
|
Предлагаем приобрести восстановленное контрольно-измерительное оборудование Tektronix по системе Encore со скидками до 70%! Оборудование Tektronix Encore полностью сертифицировано, имеет заводскую калибровку и оснащено стандартным комплектом аксессуаров. Скидка в зависимости от типа оборудования.
|
|
"Чтение - вот лучшее учение!". Следуя этой традиции, мы запустили акцию "Читай новости - получай призы!" Чтобы стать участником акции (для тех, кто еще не зарегистрировался), Вам нужно заполнить на нашем сайте регистрационную форму до 22 июня и читать наши новостные выпуски. 2-й розыгрыш призов состоится 26 июня 2018 года. Результаты 1-го розыгрыша см. на сайте.
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ООО«Серния Инжиниринг» — измерительное / аналитическое / технологическое оборудование
|
|
|
|
|
