пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

Новости науки и техники, выпуск №2-2018

предыдущий следующий
10 Февраля 2018
Новости науки и техники
Дорогие друзья,
уважаемые коллеги!
Поздравляем защитников Отечества с наступающим праздником! Желаем уверенно двигаться вперед и никогда не знать поражений! Здоровья и сил Вам, бодрости духа и блистательных побед!

А для того чтобы Вы могли достойно трудиться на благо нашего Отечества, мы предлагаем Вам ознакомиться с новинками оборудования для анализа сигнала и тестирование на ЭМС; микроскопии и ядерной визуализации; технологиями для производства и анализа отказов в микроэлектронике.

Напоминаем также, что для тех, кто читает наши новости, будут проходить розыгрыши призов. Для участия нужно зарегистрироваться на сайте >>.

В сегодняшней рассылке читайте статьи и новости:
Измерения и ЭМС
alt_text alt_text
Tektronix представил новое решение для измерения ЭМП и тестирование на ЭМС Обзор нового анализатора спектра эконом-класса Rohde&Schwarz® FPL1000
Компания Tektronix разработала универсальное решение для проведения диагностики и предварительных испытаний на соответствие требованиям электромагнитной совместимости. Наши инженеры изучили новый анализатор спектра эконом-класса от производителя Rohde&Schwarz и сделали небольшой обзор на тему, в каких случаях R&S FPL1000 будет полезен.
Подробнее Подробнее
Микроскопия и ядерная визуализация
alt_text alt_text
Новый микроскоп Aquilos Cryo-FIB для биологических исследований VECTor MILabs - платформа для ОФЭКТ/ПЭТ/OI-CT визуализации
Компания Thermo Scientific™, выпустила новый двулучевой микроскоп Aquilos™ Cryo-FIB, предназначенный для изготовления крио-ламелей, полученных из биологических объектов, для их последующего исследования в ПЭМ методом криоэлектронной томографии. Система VECTor/OI-CT даёт расширенные возможности по одновременному сбору информации от разных источников для составления полной диагностической картины. В обзоре рассказывается об исследованиях, проведенных с помощью систем MiLabs по всему миру.
Подробнее Подробнее
Технологии для микроэлектроники
alt_text alt_text
Какие методы использовать для удаления корпуса и компаунда микросхемы? Пассивация поверхности транзисторов с помощью атомно-слоевого осаждения
Для проведения функциональной диагностики и внутреннего физического анализа микросхемы необходимо вначале вскрыть чип, не затронув при этом кристалл. Процесс вскрытия микросхемы называют декапсуляцией. В статье рассказывается о различных методах декапсуляции. Китайские специалисты опубликовали отчет об успешном эксперименте по пассивации поверхности транзистора нитридом алюминия при помощи ALD-технологии. Публикуем отчет о том, как китайские специалисты добились положительных результатов с помощью системы R200 Picosun.
Подробнее Подробнее
Дню Защитника Отечества посвящается!
alt_text alt_text
"Как работает физик-теоретик"- отрывок из книги "Физики все еще шутят" Читай новости - получай призы! Акция для тех, кто читает наши новости
В честь Дня Защитника Отечества мы опубликовали на нашем сайте шутливый рассказ о том, как трудятся на своем поприще физики-теоретики. Это добрый рассказ о том, чем отличается работа физика-теоретика и физика-экспериментатора. Надеемся этот рассказ заставит Вас улыбнуться и создаст хорошее настроение! Как говорилось в советские времена: "Чтение - вот лучшее учение!". Поэтому следуя этой замечательной традиции мы будем дарить подарки тем, кто читает "Новости науки и техники" от нашей компании. Чтобы участвовать в розыгрыше призов, Вам нужно зарегистрироваться и....читать наши новостные выпуски.
Подробнее Подробнее
Компания «Серния Инжиниринг» — измерительное, аналитическое и технологическое оборудование
alt_text
Адрес: 119992, Москва, Физический факультет МГУ, Ленинские горы, 1, стр. 2
Тел.: +7 (495) 204-13-17
Факс: +7 (495) 932-92-44
Эл. почта: info@sernia.ru
Часы работы: ПН – ПТ 10:00–19:00
Сайт: www.sernia.ru