|
Дорогие друзья, уважаемые коллеги!
|
Поздравляем защитников Отечества с наступающим праздником! Желаем уверенно двигаться вперед и никогда не знать поражений! Здоровья и сил Вам, бодрости духа и блистательных побед!
А для того чтобы Вы могли достойно трудиться на благо нашего Отечества, мы предлагаем Вам ознакомиться с новинками оборудования для анализа сигнала и тестирование на ЭМС; микроскопии и ядерной визуализации; технологиями для производства и анализа отказов в микроэлектронике.
Напоминаем также, что для тех, кто читает наши новости, будут проходить розыгрыши призов. Для участия нужно зарегистрироваться на сайте >>.
В сегодняшней рассылке читайте статьи и новости:
|
|
|
|
Измерения и ЭМС
|
|
|
|
Tektronix представил новое решение для измерения ЭМП и тестирование на ЭМС
|
|
Обзор нового анализатора спектра эконом-класса Rohde&Schwarz® FPL1000
|
Компания Tektronix разработала универсальное решение для проведения диагностики и предварительных испытаний на соответствие требованиям электромагнитной совместимости.
|
|
Наши инженеры изучили новый анализатор спектра эконом-класса от производителя Rohde&Schwarz и сделали небольшой обзор на тему, в каких случаях R&S FPL1000 будет полезен.
|
Подробнее
|
|
Подробнее
|
|
|
|
Микроскопия и ядерная визуализация
|
|
|
|
Новый микроскоп Aquilos Cryo-FIB для биологических исследований
|
|
VECTor MILabs - платформа для ОФЭКТ/ПЭТ/OI-CT визуализации
|
Компания Thermo Scientific™, выпустила новый двулучевой микроскоп Aquilos™ Cryo-FIB, предназначенный для изготовления крио-ламелей, полученных из биологических объектов, для их последующего исследования в ПЭМ методом криоэлектронной томографии.
|
|
Система VECTor/OI-CT даёт расширенные возможности по одновременному сбору информации от разных источников для составления полной диагностической картины. В обзоре рассказывается об исследованиях, проведенных с помощью систем MiLabs по всему миру.
|
Подробнее
|
|
Подробнее
|
|
|
Технологии для микроэлектроники
|
|
|
|
Какие методы использовать для удаления корпуса и компаунда микросхемы?
|
|
Пассивация поверхности транзисторов с помощью атомно-слоевого осаждения
|
Для проведения функциональной диагностики и внутреннего физического анализа микросхемы необходимо вначале вскрыть чип, не затронув при этом кристалл. Процесс вскрытия микросхемы называют декапсуляцией. В статье рассказывается о различных методах декапсуляции.
|
|
Китайские специалисты опубликовали отчет об успешном эксперименте по пассивации поверхности транзистора нитридом алюминия при помощи ALD-технологии. Публикуем отчет о том, как китайские специалисты добились положительных результатов с помощью системы R200 Picosun.
|
Подробнее
|
|
Подробнее
|
|
|
|
Дню Защитника Отечества посвящается!
|
|
|
|
"Как работает физик-теоретик"- отрывок из книги "Физики все еще шутят"
|
|
Читай новости - получай призы! Акция для тех, кто читает наши новости |
В честь Дня Защитника Отечества мы опубликовали на нашем сайте шутливый рассказ о том, как трудятся на своем поприще физики-теоретики. Это добрый рассказ о том, чем отличается работа физика-теоретика и физика-экспериментатора. Надеемся этот рассказ заставит Вас улыбнуться и создаст хорошее настроение!
|
|
Как говорилось в советские времена: "Чтение - вот лучшее учение!".
Поэтому следуя этой замечательной традиции мы будем дарить подарки тем, кто читает "Новости науки и техники" от нашей компании. Чтобы участвовать в розыгрыше призов, Вам нужно зарегистрироваться и....читать наши новостные выпуски.
|
Подробнее
|
|
|
|
|
Компания «Серния Инжиниринг» — измерительное, аналитическое и технологическое оборудование
|
|
Адрес: 119992, Москва, Физический факультет МГУ, Ленинские горы, 1, стр. 2
|
Тел.: +7 (495) 204-13-17
|
Факс: +7 (495) 932-92-44
|
Эл. почта: info@sernia.ru
|
Часы работы: ПН – ПТ 10:00–19:00
|
Сайт: www.sernia.ru
|
|
|
|
|