Размер решетки для образцов: диам. 3 мм Разрешение: 0,18 нм при угле наклона 0° Дрейф: 1,5 нм/мин-1 Угол наклона (max): ±80° Поле обзора: диам. 2 мм при угле наклона 0°
Транспортировка и низкоэнергетическая томография тонких образцов при криогенных температурах после их заморозки в гидратированном состоянии или витрификации.
Размер образца: диам. 3 мм или решетка для ПЭМ/толщ до 100 мкм Разрешение: 0,34 нм Дрейф: < 1,5 нм/минуту Угол наклона (max): ±70° Поле обзора: до 1 мм при угле наклона 70°
Защита образца при транспортировке до просвечивающего электронного микроскопа
Регистрация изображений путем детектирования рассеянных на большие углы электронов с помощью сканирующей просвечивающей кольцевой темнопольной электронной микроскопии. Для использования с микроскопами компании Thermo Fisher Scientific.
FEI Talos™ TEM - просвечивающий электронный микроскоп нового поколения,
разработанный с целью предоставить исследователю возможность быстро
получать информацию об объектах в форматах 2D и 3D.
АСМ Nano-Observer CSI - гибкий инструмент для исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности. Интуитивно понятный интерфейс позволяет быстро овладеть навыками использования АСМ.
ResiScope II – это продолжение модуля ResiScope, который был разработан для проведения контактных АСМ экспериментов. Новый модуль ResiScope II - это система получения данных об электрическом сопротивлении образца с большим разрешением.
ResiScope II используется для исследований на АСМ Nano-Observer CSI - конфигурируемый АСМдля исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности.
