Размер образца (диам./толщ.): 3 мм/до 100 мкм Разрешение: 0,34 нм Дрейф: < 1,5 нм/минуту Угол наклона (max): до ±70° Поле обзора: до 950 мкм при угле наклона 70°
Прецизионное вращение в одной плоскости внутри микроскопа.
Размер образца (диам./толщ.): 3 мм/до 100 мкм Разрешение: 0,34 нм Дрейф: < 1,5 нм/минуту Угол наклона (max): до ±70° Поле обзора: до 950 мкм при угле наклона 70°
Прецизионное планарное вращение внутри микроскопа.
Размер образца (картридж 1,8 мм): диам. до 1 мм/длина до 20 мм Размер образца (картридж 1,0 мм): образец цилиндр/конус Разрешение: 0,34 нм Дрейф: < 1,5 нм/минуту Угол наклона (max): Непрерывное и пошаговое (3 шага по 120°) вращение на угол 360°
Инновационный держатель образцов, имеющих форму стержня или конуса.
Размер решетки для образцов: диам. 3 мм Разрешение: 0,18 нм при угле наклона 0° Дрейф: 1,5 нм/мин-1 Угол наклона (max): ±80° Поле обзора: диам. 2 мм при угле наклона 0°
Транспортировка и низкоэнергетическая томография тонких образцов при криогенных температурах после их заморозки в гидратированном состоянии или витрификации.
Размер образца: диам. 3 мм или решетка для ПЭМ/толщ до 100 мкм Разрешение: 0,34 нм Дрейф: < 1,5 нм/минуту Угол наклона (max): ±70° Поле обзора: до 1 мм при угле наклона 70°
Защита образца при транспортировке до просвечивающего электронного микроскопа
диапазон вых.тока: от 1 фА до 10 А (в импульсном режиме) диапазон вых.напряжения: 200 В Кол-во каналов: 2 Госреестр: внесен Разрешение: 6 1/2 разряда Макс.скорость измерений: 20000 изм./с
Источники-измерители объединяют в себе прецизионный источник питания и цифровой мультиметр, одновременно предлагая широкий динамический диапазон. Источник-измеритель может одновременно подавать ток или напряжение и выполнять измерения, что идеально подходит для измерения параметров полупроводниковых приборов и других нелинейных устройств и материалов.
Источник-измеритель SourceMeter® серии 2636B является мощным и быстродействующим в отрасли прибором с самым высоким разрешением. Несмотря на богатый функционал, прибор очень прост в обращении. Модель 2636B предлагает самый широкий в отрасли динамический диапазон: ток от 0,1 фА до 10 А в импульсном режиме и напряжение от 100 нВ до 200 В.
В состав источника-измерителя 2636B Keithley входит:
Регистрация изображений путем детектирования рассеянных на большие углы электронов с помощью сканирующей просвечивающей кольцевой темнопольной электронной микроскопии. Для использования с микроскопами компании Thermo Fisher Scientific.
Модель 4200-SCS Keithley снята с производства.
Аналоговая модель -4200A-SCS Keithley.
4200-SCS Keithley - многофункциональная модульная система изменения параметров полупроводников (характериограф), обеспечивающая профессиональное снятие вольтамперных, вольтфарадных и импульсных характеристик полупроводниковых приборов. Предназначается для измерения электрических параметров материалов, полупроводниковых приборов и технологических процессов.
