пн-пт
10:00 - 19:00
office@sernia.ru
Каталог
Поиск
8 (800) 301 13 17
Заказать звонок
0
0
RU
EN
Напишите нам на почту
office@sernia.ru
По категориям
По производителям
Антенны, позиционеры, системы радиомониторинга
Биконические антенны
Гибридные антенны
Дипольные антенны
Зеркальные антенны
Логопериодические антенны
Рамочные антенны
Рупорные антенны
Штыревые антенны
Wi-Fi антенны
Комплекты измерительных антенн
Антенны специального назначения
Антенные системы для обнаружения дронов
Аксессуары для антенн
Позиционеры
Программное обеспечение
Системы радиомониторинга
Аналитическое оборудование для научных исследований
Микроскопы
Дифрактометры
Дополнительное оборудование для микроскопии
Системы для анализа поверхности
Оборудование для исследования животных
Программное обеспечение для аналитического оборудования
Контрольно-измерительное оборудование для исследований и испытаний
Анализаторы спектра
Анализаторы фазовых шумов
Анализаторы цепей
Генераторы сигналов
Измерители мощности
Источники питания
Источники тока
Источники-измерители напряжения и силы тока
Логические анализаторы
Мультиметры
Осциллографы цифровые
Пикоамперметры
Приборы для измерения сигналов низкого уровня
Программное обеспечение
Радиоприемники
Синтезаторы частот
Системы сбора данных/коммутаторы
Системы тестирования полупроводниковых приборов
Частотомеры
Аксессуары
Оборудование для проведения испытаний на ЭМС
GTEM камеры
Безэховые камеры
Вентиляционные решетки и панели
Видеонаблюдение для экранированных и безэховых камер
Испытания на электромагнитную совместимость
Оборудование для оценки эффективности экранированных сооружений
Поглощающие материалы
Позиционеры
Предусилители
Пробники и датчики поля
Реверберационные камеры ETS-Lindgren
Системы для испытаний беспроводных устройств
Сканеры для обнаружения ферромагнитных объектов
Усилители мощности
Фильтры помехоподавляющие для экранированных помещений
Эквиваленты сети
Экранированные двери и ворота
Экранирующие боксы
Специализированное оборудование для исследований и разработок
Оборудование для исследований в микроэлектронике
Оборудование для разработки квантовых компьютеров
Системы для защиты от электромагнитных помех
Системы для оценки стойкости к внешним воздействиям микросхем
Системы для подавления вибраций
Установки электронно-лучевого тестирования
Технологическое оборудование для научных исследований и промышленности
3D принтеры и лазерные граверы
Зондовые станции и иглы для зондирования
Криостатируемые вакуумные камеры
Оборудование для атомно-слоевого осаждения тонких пленок
Оборудование для травления и осаждения тонких пленок
Системы декапсуляции микросхем
Системы плазменной обработки поверхности
Системы электронно-лучевого напыления, травления, осаждения материалов
Установки литографии
a
A-INFO
A.H.Systems
Aaronia
AmbiValue
AnaPico
ASHA beam
Aspex
c
Ceyear
Control Laser
CRESTEC
CSInstruments
d
DARE!! Instruments (Raditeq B.V. )
Drawell Scientific
e
ECI Telecom
e
EDAX
EOC (Excellent Optical Solutions Company)
ETS-Lindgren
f
FEI
Fischione Instruments, Inc.
Fluke
g
G&H AnlagenbauGmbH
h
Henniker Plasma
i
Inwave
k
Keithley
Keyence
m
Matrix Technology
Mechanical Devices Ltd.
Micsig
m
MILabs
n
Napatech
Nisene Technology Group
NSC - Nano-Structured Coatings
o
Oxford Instruments
p
Photon Kinetics
Physical Electronics (PHI)
Picosun
Plassys
r
Rafanco
RFSpin
RIGOL Technologies, Inc. (RIGOL)
Riscure
Rohde & Schwarz
s
SemiProbe
Sisma
Suzhou Flyingman Precision Instruments Co., Ltd. (FSM-PRECISION)
Synopsys, Inc.
t
Tektronix
Thermo Fisher Scientific
TMC
Trion Technology
u
Ultra Tec Manufacturing, Inc.
w
Wellink
а
АО "СКАРД-Электроникс"
н
НОВО
о
ООО "Серния Инжиниринг"
с
СИДМЭЛ
Услуги
О компании
Преимущества сотрудничества
Pеализованные проекты
Отзывы
Вакансии
Pеквизиты
Контакты
Доставка
Информация об оплате
Пресс-центр
Новости
Мероприятия
Акции и спецпредложения
Выпуски новостей
Обучение
Статьи и обзоры
Видео
Документация
Мероприятия
Наука и юмор
Это интересно
Партнеры
Главная страница
Обучение
Видеоматериалы
Демонстрация работы AFM Nanoview 1000 на облученном ионами образце Al2O3
предыдущий
следующий
Демонстрация работы AFM Nanoview 1000 на облученном ионами образце Al2O3
Демонстрация работы AFM Nanoview 1000 на облученном ионами образце Al2O3
https://sernia.ru/
