Выставка New Electronics 2016 в Экспоцентре

Выставка «Новая электроника 2016»

Уважаемые друзья, коллеги!
Приглашаем Вас посетить наш стенд А7-1 на выставке «НОВАЯ ЭЛЕКТРОНИКА». Стенд компании будет находиться в разделе "Испытания и контроль качества ЭКБ" в павильоне "Форум".

ПОЛУЧИТЬ БЕСПЛАТНЫЙ БИЛЕТ>>

ПРОИЗВОДИТЕЛИ:

Посетители нашего стенда смогут ознакомиться с новинками оборудования таких производителей как: ETS-Lindgren, Tektronix, Keyence, FEI Company, TMC (Ametek).

ТЕМАТИКА СТЕНДА

Мы представим на выставке оборудование, необходимое для решения ежедневных задач промышленных лабораторий в следующих сферах деятельности:

• Измерительные и испытательные комплексы для ЭМС;
• Поиск анализа отказов в микроэлектронике;
• Оптические методы визуального контроля качества;
• Методы устранения вибраций и электромагнитных помех на производстве и в лабораторных условиях.

ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ/ИСПЫТАТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКС №1:

Состав:
- комбинированный осциллограф MDO4000C Tektronix со встроенным анализатором спектра;
- пробники ближнего поля (Beehive Electronics);
- генератор сигналов AFG 3251C (Tektronix).

Описание: 
Предназначен для локализации источников нежелательного излучения на плате устройства в процессе проектировки; первичного определения уровня ЭМ излучения носимых электронных устройств; проведения предварительных испытаний на ЭМ-совместимость с помощью пробников ближнего поля.

 

ПОРТАТИВНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ КОМПЛЕКС №2:

Состав:
- анализатор спектра RSA306 + штыревая гибкая антенна (Tektronix);
- рабочая станция (ноутбук с установленным ПО SignalVu);
- токовый пробник BCP-512 (A.H.Systems).

Описание:
Портативный измерительный комплекс Tektronix (анализатор спектра Tektronix RSA306 с антенной + рабочая станция + токовый пробник A.H.Systems) предназначен для  решения первичного определения источника нежелательного ЭМ излучения на территории объекта в диапазоне частот 9 кГц до 6 ГГц; определения уровня кондуктивных помех устройств на территории объекта в диапазоне частот 1 МГц – 1 ГГц; мониторинга частотного спектра в диапазоне до 6 ГГц.

ОПТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ВИЗУАЛЬНОГО КОНТРОЛЯ

Для нужд микроэлектроники мы представим передовую модель оптического цифрового микроскопа Keyence VHX-5000. Данный микроскоп обладает преимуществами оптического, стереоскопического и металлографического микроскопов.

Обладая увеличением 5000 крат, штативом и столиком особой конструкции, позволяющей увеличить угол обзора исследуемого образца до 360 °, вы получаете универсальное средство оптического контроля, при помощи которого сможете исследовать микросхемы под любым углом зрения.

ВНИМАНИЕ: ПРИНОСИТЕ НА СТЕНД ВАШИ ОБРАЗЦЫ! Приносите образцы на наш стенд A7-1. Наши операторы исследуют Ваши материалы, пока Вы выпьете чашку кофе )).

ПРЕЗЕНТАЦИИ

На стенде компании Серния будет демонстрироваться презентация "Новые методы поиска анализа неисправностей микросхем".

ПОДРОБНАЯ ИНФОРМАЦИЯ О ВЫСТАВКЕ:

• Даты проведения: 13-15 апреля 2016
• Место проведения: павильон "ФОРУМ" ЦВК ЭКСПОЦЕНТР
• Стенд компании СЕРНИЯ: А7-1
• Часы работы выставки: 13  и 14 апреля: с 10.00 до 18.00, 15 апреля:  с 10.00 до 16.00
• СКАЧАТЬ СХЕМУ ПАВ."ФОРУМ">>
• ПОЛУЧИТЬ БЕСПЛАТНЫЙ БИЛЕТ>>

ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ ИНФОРМАЦИЯ

Посетив выставку "НОВАЯ ЭЛЕКТРОНИКА-2016" Вы также сможете ознакомиться с экспозициями других выставок, которые пройдут с 13-15 апреля в здании «Экспоцентра»:

• 16-я международная выставка «АВТОМАТИЗАЦИЯ. ОТРАСЛЕВЫЕ РЕШЕНИЯ-2016»;

• Выставка «ЭКСПОКОНТРОЛЬ».

 Ждем Вас на нашем стенде А7-1!