Семинар "Современные методы декапсуляции для анализа отказов в микроэлектронике"

предыдущий следующий

24 мая 2018

Удаление корпуса с помощью лазерной декапсуляции.

Семинар "Современные методы декапсуляции для анализа отказов в микроэлектронике"

Дата проведения - 24 мая 2018 года
Место проведения - Физический факультет МГУ им. М.В.Ломоносова
Продолжительность - 2,5 часа
Начало - в 11.00
Перерыв на обед - с 12 до 12.30

Уважаемые коллеги!

Приглашаем всех желающих принять участие в семинаре "Методы декапсуляции для анализа отказов в микроэлектронике".

На семинаре расскажут о современных методах вскрытия чипов на основе работы оборудования Nisene, Control Laser.

Данные технологии представляют особый интерес для специалистов, занятых в области проверки контроля качества в микроэлектронике, так как технологии декапсуляции являются неотъемлемой частью методов анализа отказов в микроэлектронике.

ПРОГРАММА СЕМИНАРА

Время	Программа
10.45-11.00	РЕГИСТРАЦИЯ, ПРИВЕТСТВЕННЫЙ КОФЕ
11.00-12.00	ВВЕДЕНИЕ · Методы декапсуляции - начальная стадия анализа отказов · Классификация методов декапсуляции, ОСНОВНАЯ ЧАСТЬ · Механическая декапсуляция · Химическая декапсуляция
12.00-12.30	ПЕРЕРЫВ НА ОБЕД
12.30-13.30	ПРОДОЛЖЕНИЕ · Лазерная декапсуляция · Плазмохимическая декапсуляция · Вопросы для обсуждения

КАК ДОБРАТЬСЯ:

Проезд до метро Университет. От метро одна остановка на любом транспорте (кроме 908 автобуса).

Вход во внутренний двор Физического факультета через железные ворота КПП со стороны улицы Лебедева. Как войдете, пройдите прямо 20 м. По правую руку будет крыльцо. Поднимаетесь по ступенькам, звоните в звонок.

Ссылка, как добраться https://yandex.ru/maps/-/CBqgQYfQgD .

КАК ЗАРЕГИСТРИРОВАТЬСЯ НА СЕМИНАР:

1. Заполните регистрационную форму ниже ИЛИ

2. Пришлите заявку на эл.почту nd@sernia.ru до 22 мая 2018 г. В заявке укажите ФИО, телефон, название организации.