пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

Цифровой сканирующий конфокальный микроскоп VK-X100/200 Keyence

Производитель:
Keyence Flag
Keyence VK-X100/X200 — конфокальный лазерный сканирующий микроскоп
Задать вопрос
Цена с НДС:
По запросу
Доставка по всей России бесплатно
Подробнее о доставке здесь
  • Детальное описание
  • Документация
  • Оплата и доставка
Лазерный сканирующий микроскоп (ЛСМ) серии VK-X100/X200 сочетает в себе преимущества оптического и сканирующего электронного микроскопов, а также профилометра. 
Основным назначением микроскопа является измерение профиля и шероховатости поверхности. ЛСМ удобен в эксплуатации, так как у него отсутствует вакуумная система. Для проведения исследований не требуется предварительной подготовки образца.

По сравнению с оптическими микроскопами ЛСМ имеет большую глубину фокуса, обеспечивает 3-D изображения и цветные изображения с хорошим увеличением, измеряет толщину пленок прозрачных объектов. Микроскоп Keyence VK-X100/X200 имеет увеличение от 200х до 24000х крат и разрешение 0,5 нанометров. 


Особенности и преимущества Keyence VK-X100/X200:

  • Высокое разрешение, увеличение до 24000х
  • Возможность получения цветного 16-битного изображения без потери разрешения.
  • Высокая степень локальности исследования с сохранением рельефа исследуемой поверхности
  • Мощный программный комплекс для измерений, анализа и обработки изображений: 
    • наличие широкого спектра измерительных инструментов (измерение высоты, ширины, поперечного сечения, угла или радиуса профиля в разрезе)
    • измерение шероховатости поверхности с большой точностью на выбранном участке объекта;
    • бесконтактное измерение в XYZ координатах, измерения в 3D, профилометрия;
    • измерение объема, площади поверхности и отношение участка к площади поверхности объектов;
    • 3D-моделирование, а также сравнительный анализ полученных моделей;
    • работа с несколькими образцами большого размера одновременно.
  • Функция Al-Scan:
    • автоматическая корректировка чувствительности лазера и высоты/угла наклона луча относительно образца;
    • автоматическая настройка пределов измерения;
    • автоматическое проведение второго «уточняющего» сканирования с целью предотвращения возможных искажений первого.
  • Wide-Scan - функция сшивки изображений высокого разрешения позволяет оценивать исследуемый объект в макромасштабе.
  • Визуализацию мельчайших деталей исследуемого объекта.
  • Функция C-laser DIC сочетает данные, полученные с помощью измерительных инструментов и первоначальную визуализацию объекта, делая изображение более характеристичным.