Система из электронно-лучевой колонны, устройства прецизионного позиционирования образцов, продвинутой вибро- и теплоизоляции с полным спектром возможностей для формирования изображений и проведения оже-спектроскопии наноструктур с увеличением до 500 тыс. крат и выше.
Система сканирующей оже-микроскопии PHI 710 – это уникальный высокопроизводительный аналитический инструмент для получения информации об элементном и химическом составе поверхностных слоев твердотельных образцов, наноструктур, тонких пленок и веществ на границах раздела методом электронной оже-спектроскопии (ЭОС). В отличие от установок оже-спектроскопии, построенных на базе обычных СЭМ, система PHI 710 обеспечивает оптимальное сочетание чувствительности, пространственного и энергетического разрешения, что позволяет решать даже самые сложные задачи в области ЭОС.
Ключевые особенности
- Регистрация оже- и вторичных электронов (ВЭ) с высоким пространственным разрешением
- Отличное качество изображений реальных (шероховатых) поверхностей
- Цилиндрический зеркальный анализатор (ЦЗА) с превосходным энергетическим разрешением
- Стабильные результаты при исследовании диэлектриков
- Эффективное профилирование по глубине
- Современное, удобное в использовании программное обеспечение.
Высокое пространственное разрешение
Хорошая стабильность результатов при анализе наноструктур
Система PHI 710 имеет в своем составе современную электронно-лучевую колонну, устройство прецизионного позиционирования образцов, а также продвинутую вибро- и теплоизоляцию, что предоставляет полный спектр возможностей для формирования изображений и проведения оже-спектроскопии наноструктур с увеличением до 500 тыс. крат и выше. Вдобавок, система обеспечивает высокую стабильность параметров при долговременной регистрации изображений.
Стандартный комплект поставки
-
Цилиндрический зеркальный анализатор (ЦЗА);
-
Автоэмиссионная электронная пушка коаксиальной конструкции (максимальное ускоряющее напряжение 25 кВ);
-
Детектор вторичных электронов сцинтилляторного типа;
-
Модуль обеспечения высокого энергетического разрешения;
-
5-осевой столик для размещения образцов;
-
Ионная пушка с функцией торможения пучка и источником ионов Ar+ (максимальное ускоряющее напряжение 5 кВ);
-
Управляющее программное обеспечение SmartSoft-Auger;
-
Программное обеспечение для обработки и архивации данных MultiPak;
-
Кожух для защиты от акустических помех;
-
Вакуумная камера и ионные насосы.
Дополнительные устройства
• Камера для загрузки образцов
• Система позиционирования образца
• Устройство для создания изломов без извлечения из системы
• Ёмкость для переноса образца
• Детектор энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (ЭДС, EDS)
• Детектор дифракции обратнорассеянных электронов (ДОРЭ, EBSD)
• Детектор отраженных электронов (ОЭ, BSE)
| Увеличение наноструктур: | 500 000 крат и выше |
Заказ товаров
Сделать заказ товара можно несколькими способами:
- Отправьте запрос на сайте через кнопку «ОТПРАВИТЬ ЗАПРОС НА КП» или «ЗАДАТЬ ВОПРОС»;
- Отправьте запрос на e-mail: info@sernia.ru с указанием конкретного товара или технических характеристик возможного прибора;
- Позвоните по телефону +7 (495) 204-13-17 или 8 (800) 301-13-17 (бесплатный для регионов). Секретарь соединит Вас с менеджером, который поможет сделать заказ.
Оплата товара
Оплата товара производится только по безналичному расчету. Цены в счете указываются с НДС. Условия оплаты: 100% предоплата или 50/50% (предварительно обговариваются с клиентом, зависят от условий поставки товаров).
Доставка товара
Сроки поставки товара обговариваются на этапе заказа товара. Доставка мелкогабаритного товара в пределах Москвы осуществляется собственной курьерской службой. Сроки доставки товаров из наличия - 2-3 дня после оплаты товара.
Доставка товара в регионы осуществляется службой MAJOR EXRESS. Отследить доставку товара можно по номеру накладной на сайте компании.