пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

Оптический металлографический 3D микроскоп PA53-MET 3D

Оптический микроскоп PA53MET 3D – металлографический микроскоп с функцией 3D моделирования.

Точность измерений:

по осям X/Y = 0,3 мкм

по оси Z = 1 мкм

Рабочее расстояние Z - 60 мм.

Задать вопрос
Цена с НДС:
По запросу
Доставка по всей России бесплатно
Подробнее о доставке здесь
  • Детальное описание
  • Тех.характеристики
  • Документация
  • Оплата и доставка

Оптический металлографический 3D микроскоп PA53-MET 3D – модель из серии микроскопов PA53-MET. Модель PA53-MET 3D предназначена для:
- 3D моделирования;
- определения высоты объектов (точность до 0,2 мкм);
- измерения глубины прорезей в кремниевой пластине;
- построения профиля контактной площадки.


EOC microscopes 1.JPG

 3D моделирование и определение высоты объектов (точность до 0,2 мкм) 

PA53_3.png

Измерение глубины прорезей в кремниевой пластине

PA53_4.png

Построения профиля контактной площадки

Основные технические характеристики PA53-MET 3D

3D микроскоп PA53-MET 3D имеет точность измерений по осям X/Y = 0,3 мкм, по оси Z = 1 мкм и рабочее расстояние Z - 60 мм. Несмотря на мощные технические характеристики, микроскоп крайне прост в обслуживании– для качественной ежедневной работы достаточно освобождать все рабочие поверхности от пыли – более никакого специального ухода не требуется.


Окуляры

UC-WF 10Х/Ø25

Объективы

Plan S-APO 5Х/0.15

 

Plan S-APO 10Х/0.3

 

Plan S-APO 20Х/0.45

 

Plan S-APO 50Х/0.8

 

Plan S-APO 100Х/0.9

Предметный стол

4х4

 

6х4


Преимущества микроскопа PA53-MET 3D

Высочайшее качество цифровых изображений 

PA53_5.png

Функция увеличения глубины фокуса 

PA53_6.png

Широкий выбор конфигураций оптической и осветительной систем (набор поляризаторов и анализаторов; комбинированный переключатель фильтров: нейтрального, светлого поля и темного поля; изображение полупроводниковой пластины в режиме темного поля).

PA53_7.png
Набор поляризаторов и анализаторов

PA53_8.png
Комбинированный переключатель фильтров: нейтрального, светлого поля и темного поля
Изображение полупроводниковой пластины в режиме темного поля

Метод дифференциально-интерференционного контраста (ДИК) позволяет получить детальные и высококачественные изображения

PA53_9.png


Новейшие объективы Plan S - Apo с коррекцией на бесконечность (CCIS) - использование в оптической системе микроскопа асферической призмы и высококачественных объективов дает возможность достичь высокой четкости изображений и правильной цветопередачи. Наличие различных режимов наблюдений упрощает выполнение необходимых исследований.

PA53_10.png

Особенности микроскопа PA53-MET 3D

  • Постоянная яркость изображения в режиме IL (при включении режима IL, в процессе работы микроскопа поддерживается постоянная яркость изображения, в том числе и в случае изменения увеличения)

PA53_11.png

  • Режим защиты окружающей среды ECO (если микроскоп не используется в течение длительного времени, автоматически включается режим энергосбережения, который позволяет защитить образец от перегрева, сэкономить электроэнергию и продлить срок службы лампы осветительной системы.

  • Модульная конструкция предметного стола для больших образцов (предметный стол для больших образцов имеет модульную конструкцию, что повышает удобство работы с 8 и 12 дюймовыми пластинами, а также с крупными ЖК-дисплеями.)

PA53_12.png

  • Моторизованный предметный стол с функцией сшивки изображений

PA53_13.png

Точность измерений:
по осям X/Y = 0,3 мкм;
по оси Z = 1 мкм.
Рабочее расстояние Z - 60 мм.
Точность по X/Y : 0,3 мкм
Точность по Z: 1 мкм
Рабоче расстояние: 60 мм