Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
8 (800) 301-13-17
+7 (495) 204-13-17

ELITE- термоэмиссионный микроскоп с ИК-камерой

ELITE- термоэмиссионный микроскоп с ИК-камерой
Цена: По запросу
Производитель: Thermo Fisher Scientific Flag

Линейка термоэмиссионных микроскопов с высокочувствительной инфракрасной-камерой (ИК-камерой). Подходят для сквозного проектирования корпусов и обнаружения электрических дефектов на кристалле микросхемы или печатной плате.

  • Описание
  • Характеристики

Термоэмиссионные микроскопы с ИК-камерой серии ELITE Thermo Fisher Scientific

Линейка термоэмиссионных микроскопов с высокочувствительной инфракрасной камерой ELITE - это эффективное решение для сквозного проектирования корпусов и обнаружения широкого диапазона электрических дефектов на кристалле микросхемы или печатной плате. Наиболее распространенные дефекты, которые возможно обнаружить с помощью термоэмиссионных микроскопов серии ELITE:

  • короткое замыкание силовых или информационных линий;
  • повреждение статическим электричеством (ESD);
  • утечка тока;
  • дефекты оксидных пленок;
  • выход из строя транзисторов и диодов;
  • тиристорный эффект;
  • резистивный обрыв. 
  • Термоэмиссионные микроскопы серии ELITE - это первая полностью интегрированная система, в которой применяется динамическая неразрушающая методика LIT для 2D и 3D устройств в режиме реального времени. Системы серии ELITE показывают превосходную производительность, кратчайшие сроки получения результатов и ускоренный цикл обучения работе с системой благодаря применению передовых инструментов и технологий:

    • сверхчувствительная термография высокого разрешения с технологией Lock-in (LIT);
    • запатентованная сверхчувствительная ИК-камера InSb;
    • тщательно подобранная оптика;
    • новейшие алгоритмы работы.  

    Преимущества ELITE Thermo Fisher Scientific

    • передовой метод неразрушающего контроля - работа системы не требует декапсуляции, удаления корпуса микросхем и даже послойного анализа ИС. Так минимизируется риск случайной потери информации об отказе, что нередко имеет место в случае применения разрушающих методов.
    • сочетание с другими неразрушающими методиками - например, со сканирующей акустической микроскопией (SAM) или 2D и 3D рентгеновскими технологиями.
    • сокращение времени получения результата и локализация дефектов с точностью в мкм за счет определения точных x, y, и z координат местоположения сбойного узла - это значительно сужает область анализа рентгеновским или акустическим методами.
    • высокоточная оптика позволяет быстро обнаружить сбойный компонент на монтажной плате для его аккуратного удаления.
    • твердые иммерсионные линзы (SIL) и опция S-LSM -  высокий уровень разрешения и качества получаемого изображения (оснащается опционально).

    Модельный ряд серии ELITE Thermo Fisher Scientific

    ELITE DX

  • Лучшая в своем классе термочувствительность для достижения быстрых результатов;
  • Лидер по точности локализации отказов по координатам XY и Z;
  • Простое и быстрое тестирование образца как с лицевой, так и с тыльной стороны;
  • Применение: современные 2,5D и 3D корпуса, стандартные корпуса с проволочными соединениями и внутренними выводными рамками, отрытый кристалл и отдельные детали.
  • ELITE VX

  • Уникальная система с высоким напряжением 10 кВ и полнофункциональным механизмом безопасности для защиты оператора и тестируемого образца;
  • Потрясающая термочувствительность для быстрого получения результатов;
  • Лазерная маркировка с объективом прямого видения;
  • Применение: источники электропитания, биполярные транзисторы с изолированным затвором, мощные МОП-транзисторы и различные высоковольтные устройства.
  • ELITE Lite

  • Бюджетная эффективная система, основанная на передовых технологиях;
  • Компактный корпус с полностью интегрированным управлением;
  • Применение: печатные платы, дисплеи, солнечные панели и электронные модули.
  • Технические характеристики серии ELITE Thermo Fisher Scientific

    Наименование

    Описание

    Разрешение в горизонтальной плоскости

    до 1 мкм

    Разрешение по глубине

    до 20 мкм

    Виды детектируемых дефектов

    широкий диапазон коротких замыканий (от 2 мОм до 2 ГОм), утечки (рассеиваемая мощность ниже 1 мкВт), резистивные обрывы

    Виды тестируемых устройств

    Сборки печатных плат, модули, корпуса, целые пластины и их части, кристаллы

    Поле зрения

    макс. 200 мм x 160 мм; мин. 0,62 мм x 0,51 мм

    Воздействие на тестируемое устройство

    внутреннее DC электропитание; автоматическое тестовое оборудование ATE, CAN шина, тестер граничного сканирования, тестер системного уровня

    Время получения результата

    от минут до секунд, в зависимости от применяемой мощности и типа тестируемого образца


Разрешение в горизонт.плосткости: до 1 мкм
Разрешение по глубине: до 20 мкм
Модельный ряд: ELITE DX, ELITE VX, ELITE Lite
Тестируемые устройства: Кристаллы микросхемы, печатные платы, модули, корпуса, пластины, части пластин
Детектируемые дефекты: короткие замыкания, утечки, резистивные обрывы