пн-пт  10:00 - 19:00

EXplorer Aspex FEI - сканирующий электронный микроскоп с энергодисперсионным анализом

Cканирующий электронный микроскоп EXplorer Aspex (FEI) со встроенным энергодисперсионным анализом 
Все характеристики
Производитель: Aspex Flag
Цена по запросу
Отправить запрос на КП
Задать вопрос
Доставка
Бесплатно по всей России
Подробнее
Cканирующий электронный микроскоп EXplorer Aspex (FEI) со встроенным энергодисперсионным анализом 
Описание
Характеристики
Документы
Оплата и доставка
Описание
EXplorer Aspex FEI — cканирующий электронный микроскоп со встроенным энергодисперсионным анализом для исследований широкого спектра поверхностей и частиц. 
В комплектацию микроскопа входит стандартное программное обеспечение для микроанализа. Если Ваши потребности предполагают расширенный анализ частиц, то ASPEX может предложить программы с более широким спектром исследовательских возможностей:

1. AFA Automated Feature Analysis (Автоматизированный анализ признаков) — быстрый и точный инструмент для определения размеров и количества эллипсоидальных частиц или частиц, имеющих форму, приближенную к эллипсу.

2. CFA Complex Feature Analysis (Комплексный анализ признаков) — автоматическое определение размера и количества частиц, высокая производительность: сотни или тысячи частиц в час без вмешательства оператора; специально оптимизирован для определения частиц сложных и нестандартных форм.

3. MQA ™ Metal Quality Analyzer (Анализатор качества металла) — специализированная SEM / EDS система, которая позволяет осуществлять контроль качества материалов в технологическом процессе, в том числе и на сталелитейных заводах. Простота в использовании предлагаемого программного обеспечения и форма отчетности, которая формируется одним нажатием кнопки, позволяет осуществлять контроль качества стали в автоматическом режиме 24/7.

4. GSR Gun Shot Residue Analysis (Анализ следов выстрела) — программа обеспечивает морфологический и элементный анализ частиц и формирует отчет об исследуемом образце.

Технические характеристики:
Эффективность распознавания
частиц
Более чем 95%
Диапазон определяемых частиц От 30 нм до 5 мм
Детекторы SED, Quad BSED, SDD EDX
Ускоряющее напряжение 0.2 до 25 кВ
Диапазон перемещения столика 80мм x 100мм
Вакуумная система Режим высокого вакуума
и регулируемый вакуум
Диапазон определяемых
элементов
От бора
Разрешение по энергии 135 эВ
Загрузка образцов Одновременная загрузка
6-ти образцов
Столик с электроприводом X-Y 80мм x 100мм
Размеры камеры 180мм x 230мм x 140мм
Характеристики
Документы
Оплата и доставка
  • Отправьте запрос на сайте через форму обратной связи «ЗАКАЗАТЬ». Укажите необходимое количество товара и нужный способ доставки, любые другие детали запроса
  • Отправьте запрос на e-mail am@sernia.ru с темой «Запрос на оборудование», указав необходимое количество товара, сроки и способ доставки, любые другие детали запроса.
  • Позвоните по телефону +7 (495) 204-13-17 или 8 (800) 301-13-17 (бесплатный звонок для регионов), доб. 203, контактное лицо - Масюк Алексей Владимирович.