пн-пт  10:00 - 19:00

Versa 3D DualBeam FEI - электронно-ионный (двулучевой) микроскоп

Усовершенствованная версия модели Quanta 3D FEG. Versa 3D — двулучевой электронно-ионный микроскоп. 
Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.

Все характеристики
Производитель: FEI Flag
Цена по запросу
Отправить запрос на КП
Задать вопрос
Доставка
Бесплатная доставка по Москве
Подробнее
Усовершенствованная версия модели Quanta 3D FEG. Versa 3D — двулучевой электронно-ионный микроскоп.  Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.
Описание
Характеристики
Документы
Оплата и доставка
Описание
Универсальная двулучевая система для трехмерной визуализации, определения характеристик материалов, прототипирования и исследований, в том числе и в естественных условиях.

Сочетание в системе двух лучей позволяет исследовать поверхностные и подповерхностные области любых образцов (нанометрового и микрометрового масштаба), а также изготавливать кросс-секции объекта исследования.

Производит подготовку высококачественных образцов для исследований в просвечивающем электронном микроскопе (TEM).

Гибкость конфигурации вакуумного режима прибора  позволяет исследовать токопроводящие образцы в в режиме высокого вакуума или  токопроводящие и непроводящие образцы в режиме высокого и низкого вакуумов.

Программное обеспечение Auto Slice и View G3 позволяет выполнять трехмерный анализ характеристик широкого спектра материалов.

Имеет возможность проводить динамические эксперименты с газовым и термическим контролем.
Таблица значений разрешения электронного луча (нм) Конфигурация системы Versa 3D

HiVac
HiVac/LoVac
HiVac/LoVac/ESEM
Режим высокого вакуума    
Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ 1,2 1,2 1,2
Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ с PC* 1,0 1,0 1,0
Разрешение сканирующей просвечивающей электронной микроскопии 30 кВ 0,8 0,8 0,8
Разрешение детектора отраженных электронов 30 кВ 2,5 2,5 2,5
Разрешение детектора вторичных электронов 15 кВ 1,5 1,5 1,5
Разрешение детектора вторичных электронов 15 кВ 1,3 1,3 1,3
Разрешение детектора вторичных электронов 1 кВ 2,9 2,9 2,9
Разрешение детектора вторичных электронов 1 кВ с BD*+ICD* и PC* 2,0 2,0 2,0
Режим низкого вакуума*    
Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ   1,5 1,5
Разрешение детектора отраженных электронов 30 кВ   2,5 2,5
Разрешение детектора вторичных электронов 3 кВ   3,0 3,0
Режим естественной среды*    
Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ     1,5
Разрешение детектора вторичных электронов 3 кВ     3,0
* опциональные компоненты
(PC = плазменный очиститель, BD = замедление луча, ICD – встроенный в колонну детектор)
Характеристики
Разрешение эл.пучка: 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ
Разрешение ионного пучка: 5 нм при 30 кВ СПЭМ
Документы
Оплата и доставка

Заказ товаров

Сделать заказ товара можно несколькими способами:

  • Отправьте запрос на сайте через кнопку «ОТПРАВИТЬ ЗАПРОС НА КП» или «ЗАДАТЬ ВОПРОС»;
  • Отправьте запрос на e-mail: info@sernia.ru с указанием конкретного товара или технических характеристик возможного прибора;
  • Позвоните по телефону +7 (495) 204-13-17 или 8 (800) 301-13-17 (бесплатный для регионов). Секретарь соединит Вас с менеджером, который поможет сделать заказ.

Оплата товара

Оплата товара производится только по безналичному расчету. Цены в счете указываются с НДС. Условия оплаты: 100% предоплата или 50/50% (предварительно обговариваются с клиентом, зависят от условий поставки товаров).

Доставка товара

Сроки поставки товара обговариваются на этапе заказа товара. Доставка мелкогабаритного товара в пределах Москвы осуществляется собственной курьерской службой. Сроки доставки товаров из наличия - 2-3 дня после оплаты товара.

Доставка товара в регионы осуществляется службой MAJOR EXRESS. Отследить доставку товара можно по номеру накладной на сайте компании.