Универсальный электронный сканирующий микроскоп Thermo Scientific™ Quattro ESEM (FEI)
Электронный сканирующий микроскоп Thermo Scientific™ Quattro SEM - это высокопроизводительная система, предназначенная для разносторонних исследований на наноуровне с возможностью изучения образцов в режиме "Естественная среда" .Микроскоп имеет пушку с полевой эмиссией, обеспечивающей разрешение до 0,8 нм в режиме высокого вакуума при 30 кВ в режиме STEM. Превосходное разрешение сочетается с отличным контрастом изображения. Три вакуумных режима (высокий вакуум, низкий вакуум и ESEM) позволяют анализировать практически любой образец.
Аналитические возможности Quattro ESEM
Возрастающая потребность в элементных и кристаллографических данных образцов воплощается в аналитической камере Quattro, одновременно поддерживающей EDS детекторы, копланарные EDS/EBSD и параллельно WDS. Вне зависимости от типа образца, в высоком вакууме или в сочетании с уникальными экспериментальными условиями, надёжные аналитические результаты будут получены даже на проводящих, диэлектрических, влажных или высокотемпературных образцах.
Простой, понятный интерфейс
Для многопользовательских систем важно, чтобы все данные можно было получить за минимальное время обучения, поэтому простота использования имеет первостепенное значение. Уникальное оборудование Quattro поддерживается справочной функцией (User Guidance), которая не только контактирует, но и напрямую взаимодействует с микроскопом. С функцией ‘undo’ начинающие пользователи могут экспериментировать, а опытные пользователи легко сокращать время до получения результатов. Quattro поддерживает предварительные настройки сканирования, предварительные настройки колонок, легкую навигацию на основе камеры, SmartSCAN и компенсацию с помощью дрифта (DCFI) для повышения производительности, качества данных и простоты использования.
Программное обеспечение для Quattro ESEM
Дополнительные расширения программного обеспечения могут быть добавлены в Quattro для отображения больших площадей и корреляции других методов с программным пакетом MAPS, в то время как пользователи могут довести их исследование и автоматизацию до следующего уровня с помощью AutoScript – интерфейса прикладного программирования на основе Python (API).
Ключевые преимущества Quattro ESEM
- In-situ изучение материалов в их естественном состоянии: уникальный FEG-SEM с высоким разрешением с режимом "Естественная среда (ESEM)".
- Минимизация времени подготовки образца: низкий вакуум и возможность ESEM позволяют снимать и анализировать непроводящие и /или гидратированные образцы без заряда.
- Получение информации со всех образцов с одновременной визуализацией SE и BSE в каждом режиме работы.
- In-situ анализ при температурах от -165°C до 1400°C с возможностью криоисследований, с помощью столика Пельтье.
- Отличные аналитические возможности камеры, позволяющей подключить до трёх детекторов: EDS, WDS и EDS/EBSD.
- Отличный анализ непроводящих образцов: точные EDS и EBSD данные в условиях низкого вакуума с откачкой через линзу.
- Точный предметный столик с диапазоном наклона 105° для выборочного наблюдения со всех точек зрения.
- Система проста в использовании, интуитивно понятное программное обеспечение с руководством пользователя и функцией отмены. Быстрая работа с меньшим количеством щелчков мыши.
- Новые инновационные опции, включая убирающийся детектор катодолюминесценции RGB (CL), ступень нагрева высокого вакуума 1100°C и AutoScript, скриптовый инструмент на основе Python (API).
Разрешение электронного пучка
• Изображения в высоком вакууме
– 0.8 нм @ 30 кВ (STEM)
– 1.0 нм @ 30 кВ (SE)
– 2.5 нм @ 30 кВ (BSE)
– 3.0 нм @ 1 кВ (SE)
• Изображения в высоком вакууме с замедлением пучка
– 3.0 нм @ 1 кВ (BD mode* + BSED*)
– 2.1 нм @ 1 кВ (BD mode* + ICD*)
– 3.1 нм @ 200 В (BD mode* + ICD*)
• Изображения в низком вакууме
– 1.3 нм @ 30 кВ (SE)
– 2.5 нм @ 30 кВ (BSE)
– 3.0 нм @ 3 кВ (SE)
• ESEM
– 1.3 нм @ 30 кВ (SE)
Диапазон параметров электронного пучка
• Диапазон тока пучка: от 1 пA до 200 нA
• Диапазон ускоряющего напряжения: 200 В - 30 kV
• Диапазон энергии приземления: 20 эВ – 30 кэВ с дополнительным торможением пучка
• Увеличение: от 6 до 2500000×
Камера
• Внутренняя ширина: 340 мм
• Аналитическое рабочее расстояние: 10 мм
• Порты: 12
• Угол взлёта EDS: 35°
• Возможны три одновременных детектора EDS, два при 180°
• Копланарная EDS/EBSD ортогональная оси наклона стола
• 9-контактное универсальное электрическое соединение
Детекторы
Quattro одновременно обнаруживает до четырёх сигналов из любой комбинации доступных детекторов или сегментов детекторов:
• ETD – детектор Эверхарта-Торнли вторичных электронов
• Низковакуумный детектор вторичных электронов (LVD)
• Газовый SED (GSED) (используется в режиме ESEM)
• ИК камера для наблюдения за образцом
• Nav-Cam™: встроенная цветная оптическая камера для выборочной навигации
• DBS – съёмный или объектизированный сегментированный детектор направленного обратного рассеяния
• DBS-GAD – газоаналитический детектор, монтируемый на объективе
• STEM 3+ – выдвижной сегментированный (BF, 4 DF, 6 HADF) сканирующий детектор передачи
• WetSTEM™ – элемент Пельтье интегрированный в STEM для наблюдения тонких мокрых образцов
• RGB-CLD – реальный цветовой детектор CL
• Встроенный детектор (ICD) для режима замедления луча
• Измерения тока пучка электронов*
Вакуумная система
• 1 × 250 литр/с TMP
• 1 × PVP
• 2 × IGP
• Встроенная резервная батарея IGP (защита системы от незапланированного отключения электроэнергии)
• Запатентованная дифференциальная накачка через линзу
• Длина пути прохождения луча: 10 мм или 2 мм
• Длительность откачки: ≤ 3.5 минуты до высокого вакуума и ≤ 4.5 минуты до ESEM
• Дополнительная холодная ловушка CryoCleaner
• Дополнительное обновление для PVP
Держатели образцов
• Стандартный держатель SEM для нескольких образцов, монтируется непосредственно на предметный стол, вмещает до 18 стандартных заглушек (⌀ 12 мм), не требует инструментов для монтажа
• Универсальный держатель на 18 мест, три предварительно наклонных штыря, образцы поперечного сечения и образцы STEM в качестве опции
• Дополнительный держатель для 6 сеток S / TEM
Параметры столика и образцов
|
Тип |
Эвентцентрический, гониометрический стол, 5-осный моторизованный |
|
XY |
110 × 110 мм |
|
Повторяемость |
< 3.0 мкм (@ 0° наклона) |
|
Моторизованная Z ось |
65 мм |
|
Вращение |
n × 360° |
|
Наклон |
-15° / +90° |
|
Макс высота образца |
85 мм до эвентцентрической точки (10 мм) |
|
Макс вес образца |
500 грамм в любой точке (до 2 кг при наклоне 0°) |
|
Макс размер образца |
122 мм в диаметре с вращением по X и Y (возможны большие образцы с ограниченным ходом или поворотом) |
Аксессуары для экспериментов in-situ (дополнительно)
• Управляемый ПО столик Пельтье с нагревом от -20° C до +60° C
• Управляемый ПО столик с нагревом до 1000° C в режимах низкий вакуум/ESEM
• Управляемый ПО столик с нагревом до 1100° C в режиме высокого вакуума
– платина
– вольфрам
– углерод
• Манипуляторы
• Cryo-stage
• Электрические зондовые / многозондовые станции
Параметры системы
• Торможение пучка со смещением стола от -4000В до +50В
• Электростатическое гашение пучка
• Автоматическая система диафрагмы
• Очистка образца / камеры: CryoCleaner, встроенный плазменный очиститель
• QuickLoader™: блокировка загрузки для быстрой передачи данных
• Поддержка ПК
• Ручной пользовательский интерфейс
• Джойстик
• Analysis: EDS, EBSD, параллельный пучок WDS, CL, Raman
• Встроенный 16-битный движок, электронные литографические модули
• Счетчик тока
• Комплект держателей образца
• Акустический корпус для вакуумного насоса
• Опция безмасляного пред вакуума (спиральный насос)
Требования к установке
• Мощность:
– Напряжение100 – 240 В (-6%, +10%)
– Частота 50 или 60 Гц (±1%)
– Потребление: < 3.0 кВА для базового микроскопа
• Сопротивление заземления < 0.1 Ω
• Окружающая среда:
– Температура (20 ± 3)°C
– Относительная влажность воздуха ниже 80%
– Переменные электромагнитные поля < 40 нТл асинхронные, < 100 нТл синхронно для временных линий, 20 мс (50 Гц сеть) или 17 мс (сеть 60 Гц)
• Минимальный размер двери: 0.9 м в ширину × 1.9 м в высоту
• Вес: колонна 980 kg
• Для вентиляции рекомендуется сухой азот
• Сжатый воздух 4-6 бар – чистый, сухой и безмасляный
• Чиллер системы
• Акустика: требуется исследование площадки, анализ соответствующего спектра
• Вибрации пола: требуется исследование площадки, анализ соответствующего спектра
• Дополнительная платформа активной изоляции
Заказ товаров
Сделать заказ товара можно несколькими способами:
- Отправьте запрос на сайте через кнопку «ОТПРАВИТЬ ЗАПРОС НА КП» или «ЗАДАТЬ ВОПРОС»;
- Отправьте запрос на e-mail: info@sernia.ru с указанием конкретного товара или технических характеристик возможного прибора;
- Позвоните по телефону +7 (495) 204-13-17 или 8 (800) 301-13-17 (бесплатный для регионов). Секретарь соединит Вас с менеджером, который поможет сделать заказ.
Оплата товара
Оплата товара производится только по безналичному расчету. Цены в счете указываются с НДС. Условия оплаты: 100% предоплата или 50/50% (предварительно обговариваются с клиентом, зависят от условий поставки товаров).
Доставка товара
Сроки поставки товара обговариваются на этапе заказа товара. Доставка мелкогабаритного товара в пределах Москвы осуществляется собственной курьерской службой. Сроки доставки товаров из наличия - 2-3 дня после оплаты товара.
Доставка товара в регионы осуществляется службой MAJOR EXRESS. Отследить доставку товара можно по номеру накладной на сайте компании.