Универсальные микроскопы Quanta позволяют решать любые исследовательские задачи.
Все характеристики
Производитель:
FEI
Поделиться:
Описание
Характеристики
Документы
Оплата и доставка
Описание
Сканирующий электронный микроскоп Quanta 650
Микроскопы QuantaTM обеспечивают полное представление о любом образце: изображения поверхностного рельефа и химсостава поверхности (Z-контраст) можно легко дополнить определением свойств материала и его элементного состава, установив вспомогательное оборудование.
Отвечая на вызовы научной работы наших дней, микроскопы серии Quanta не ограничивают исследователя, позволяя получать высококачественные изображения и достоверные результаты анализа при работе с самыми сложными материалами, а не только с простыми образцами типа металлов и специально подготовленными образцами с проводящим покрытием. Это передовое, гибкое решение для текущих и будущих научно-исследовательских применений. Микроскопы серии Quanta поддерживают три режима съемки: в высоком вакууме, низком вакууме и в естественной среде (ESEM™) — и позволяют осуществлять сканирующую электронную микроскопию самого широкого круга образцов. С помощью этих приборов можно решать задачи по структурной характеризации как традиционных образцов металлов, сколов и шлифов, так и анализ непроводящих мягких материалов.
Микроскопы серии Quanta отличаются простым и гибким пользовательским интерфейсом, повышающим производительность и обеспечивающим возможность сбора всех необходимых данных. Созданные микроскопистами для микроскопистов, эти приборы полностью меняют представление о том, что можно считать «удобством эксплуатации». В качестве стандартных реализованы такие полезные функции, как автоматическая съемка навигационной картины при монтаже образца, управление перемещением предметного столика по двойному щелчку, перетаскивание для масштабирования и многие другие.
В микроскопах серии Quanta реализована технология SmartSCANTM — интеллектуальный алгоритм сканирования, понижающий уровень помех и повышающий качество изображения.
Дополнительную универсальность приборам придают новые опции, в том числе торможение пучка для эффективной работы при низких ускоряющих, система навигации по цветному изображению Nav-Cam™ и новые выдвижные детекторы.
Приобретая микроскопы серии Quanta, вы гарантируете себе высокую отдачу от инвестиций, получая возможность эффективнее и проще собирать более точные данные при работе с любыми материалами.
Ключевые преимущества
- Исследование проводящих и непроводящих образцов во вторичных и обратноотраженных электронах во всех режимах работы;
- Минимизация пробоподготовки; режимы низкого вакуума и естественной среды, обеспечивающие отсутствие артефактов от зарядки образца при съемке и анализе непроводящих и/или гидратированных образцов;
- Расширение аналитических возможностей: EDS и EBSD анализ проводящих и непроводящих образцов в высоком и низком вакууме благодаря запатентованной технологии дифференциальной откачки через линзу. Устойчивый высокий ток пучка (до 2 мкA) позволяет быстро и точно выполнять элементный анализ;
- Динамический in situ анализ различных образцов в нативном состоянии при высоких и низких температурах в диапазоне от–165 до +1500 °C, на специальных держателях образца;
- Возможность снимать поверхность в режиме торможения пучка для выизуализации рельефа и состава поверхности проводящих образцов;
- Простой и интуитивно понятный интерфейс, позволяющий даже начинающим пользователям эффективно работать с прибором.
Стандартные области применения
Наноструктурные исследования
- Металлы и сплавы, окисление/коррозия, сколы, сварные швы, шлифы, магнитные и сверхпроводящие материалы
- Керамика, композитные материалы, пластмассы
- Плёнки/покрытия
- Петрологические шлифы, минералы
- Мягкие материалы: полимеры, фармацевтические препараты, фильтры, гели, ткани, растительные материалы
- Частицы, пористые материалы, волокна
Нанопроцессы in situ
- Гидратация/дегидратация
- Aнализ смачивания, измерения угла смачивания
- Окисление/коррозия
- Механические свойства (с нагревом или охлаждением)
- Кристаллизация и фазовые переходы
Нанопрототипирование
- Литография
- EBID
Ключевые технические характеристики
Электронно-оптические
- Высокопроизводительная термоэмиссионная колонна РЭМ с двуханодной геометрией электронной пушки
- Неподвижная апертура объектива для простоты эксплуатации
- Линза объектива 45° с дифференциальной откачкой через линзу
- Максимальная ширина поля зрения: 6,5 мм при аналитическом рабочем отрезке (10 мм); 11,3 мм при рабочем отрезке 25 мм
- Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 кВ
- Ток зонда: до 2 мкA, с плавной регулировкой величение: 6–1 000 000 x
Предельное разрешение
- Высокий вакуум: 3,0 нм при 30 кВ (SE); 4,0 нм при 30 кВ (BSE)*; 8,0 нм при 30 кВ (SE)
- Высокий вакуум с режимом торможения пучка: 7,0 нм при 3 кВ (режим BD* + vCD*)
- Низкий вакуум: 3,0 нм при 30 кВ (SE); 4,0 нм при 30 кВ (BSE)*; 10 нм при 30 кВ (SE)
- Естественная среда (ESEM): 3,0 нм при 30 кВ (SE)
Детекторы
- Детектор вторичных электронов (SED) Эверхардта-Торнли
- Низковакуумный SED большого поля (LFD)
- Газовый SED (GSED) (используется в режиме ESEM)
- Высокочувствительный низковольтный SS-BSED*
- ИК-камера для визуализации и контроля положения образца в камере
- Газовый BSED (BSE-детектор для высокого давления, используется в режиме ESEM)*
- Направленный 4-квадрантный твердотельный BSED* (CBS и ABS режимы)
- Сцинтилляторный BSED/CLD*
- Измерение тока электронного пучка*
- Газовый аналитический BSED (GAD)*
- STEM-I, извлекаемый STEM-III детектор* Nav-Cam™ — цветная оптическая камера для навигации по образцу*
- Катодолюминесценция*
- EDS*
- WDS*
- EBSD*
Вакуумная система
- 1 x 240 л/с турбомолекулярный насос, 1 x PVP
- Запатентованная дифференциальная откачка через апертуру линзы
- Длина пробега электронов в газе: 10 или 2 мм
- Возможность установки безмасляного спирального форвакуумного насоса по дополнительному заказу
- Вакуумная камера (высокий) < 6e-4 Па
- Вакуумная камера (низкий) < 10–130 Па
- Вакуум в режиме ESEM < 10–2600 Па
- Время откачки: ≤ 150 с до высокого вакуума и ≤ 270 с до ESEM (стандартные процедуры испытаний FEI)
Камера
- 379 мм слева направо
- Аналитический рабочий отрезок 10 мм
- 10 портов
- Угол выхода детектора EDS: 35° по дополнительному заказу
Предметный столик
- X-Y = 150 мм
- Z = 65 мм
- Ход по Z = 93,5 мм
- T = – 5°... +70°
- R = 360° бесконечно
- Воспроизводимость результатов: 2 мкм (X и Y)
- Эвцентрический наклон на аналитической высоте 29,3 мм
- Перемещение по осям x и y в плоскости наклона
- Торможение пучка (потенциал на образце относительно катодной линзы)*
Держатели образцов
- Держатель для нескольких образцов
- Держатель для одного образца, монтируется непосредственно на предметный столик
- Различные держатели для пластин и специальные держатели, поставляются по отдельному заказу
Управление системой
- Графический пользовательский интерфейс на базе Windows®, клавиатура, оптическая мышь
- Один/два* 19-дюймовых ЖКИ-монитора
- Джойстик*
- Ручной пользовательский интерфейс*
Система обработки изображений
- До 4096 x 3536 пикселей (~14 МП)
- Тип файла: TIFF (8-, 16- или 24-битный RGB), BMP или JPEG
- Однокадровое изображение или изображение в четырёх квадрантах
- 4-квадранта, живое изображение
- Живое или статическое микширование сигналов в цвете или градациях серого
- Усреднение или интегрирование 256 кадров
- Цифровая запись видеоизображения (.avi)
- Гистограмма изображения и измерительное программное обеспечение
Вспомогательное программное обеспечение
- Технология сканирования SmartSCAN™
- Автоматизированные функции навигации
- Программное регулирование температуры образца
- Последовательное получение изображений в 1–4 квадрантах с временным интервалом
- Функция сохранения нескольких изображений
- Программная утилита FEI Movie Creator (создание настраиваемого .avi-видеофайла на основе автоматически полученной серии TIFF-изображений)
- Функциональные возможности полнооконного изображения (размещение изображения на отдельном мониторе позволяет выводить два полноэкранных изображения, полученные от различных детекторов)
Системные опции
- Торможение пучка
- Ручной пользовательский интерфейс
- Вспомогательный ПК (включая второй 19-дюймовый монитор)
- Охлаждаемый предметный столик с программно- управляемым элементом Пельтье
- Система WetSTEM™ с программным управлением
- Нагреваемый до 1000 °С предметный столик с программным управлением
- Нагреваемый до 1400 °С предметный столик с программным управлением
- Cryocleaner
- Запасная ёмкость Cryocleaner
- Джойстик
- Измеритель тока образца
- Программное обеспечение для дистанционного управления
- Видеопринтер
- Комплект держателей образцов
- Акустический кожух форвакуумного насоса 7- или 52-контактный электрический коннектор
- Электростатический бланк луча
- Монтажный комплект для WDS (спектрометрия с дисперсией по длинам волн)
- Монтажный комплект для спирального форвакуумного насоса
- Вспомогательный газовый набор (для газов вместо воды)
Распространенное вспомогательное оборудование сторонних производителей
- EDS
- WDS
- EBSD
- Предметный столик для работы с крио образцами
- Катодолюминесценция
- Прибор для измерения малых токов образца
- Наноманипуляторы
- Система для литографии
- CAD-навигация
- Электрическое зондирование
- Рамановская спектроскопия
Документация и сопровождение
- Онлайн-справка
- Обучающий компакт-диск «Начало работы с Quanta»
- Готовность к работе с RAPID™ (поддержка дистанционной диагностики)
- Бесплатный доступ к онлайн-ресурсам FEI для владельцев
- Бесплатное членство в Клубе пользователей FEI ESEM
Программные приложения по дополнительному заказу
- Программное обеспечение для дистанционного управления/просмотра
- Программное обеспечение визуального анализа
- Программное обеспечение доступа к веб-архиву данных
- Программное обеспечение для профилирования рельефа / измерения шероховатости
Гарантия и обучение
- Гарантия 1 год
- Возможны курсы подготовки по дополнительным сферам применения
- Выбор плана сервисного обслуживания
- Выбор программ обучения по эксплуатации/сферам применения
Требования по установке
(более подробные сведения приводятся в руководстве по предварительной установке)- Электропитание: напряжение 230 В (+6%, –10%), частота 50 или 60 Гц (+/-1%)
- Потребляемая мощность: < 3,0 кВА в базовой комплектации
- Сопротивление заземления: < 0,1 Ом
- Условия эксплуатации: максимальный температурный диапазон эксплуатации 15–25 °C, относительная влажность не более 80% (без конденсата), уровень паразитных ЭМП с переменным напряжением:< 100 нТ асинхронные поля
- < 300 нТ синхронные поля
- Ширина дверного проёма: 90 см
- Вес: консоль колонны 490 кг
- Рекомендуется сухой азот: система (от 0,7 до 0,8 бар, макс. 10 л/мин во время вентилирования)
- Уровень шума: < 68 дБн (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться акустический спектр)
- Вибрация пола (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться спектр частот вибрации пола )
- Виброизоляционная платформа поставляется по дополнительному заказу
Энергосбережение
- Мониторы и ПК, совместимые со стандартом Energy Star
- Система предназначена для эксплуатации без водяного охлаждения или сжатого воздуха
Характеристики
Документы
Оплата и доставка
Заказ товаров
Сделать заказ товара можно несколькими способами:
- Отправьте запрос на сайте через кнопку «ОТПРАВИТЬ ЗАПРОС НА КП» или «ЗАДАТЬ ВОПРОС»;
- Отправьте запрос на e-mail: info@sernia.ru с указанием конкретного товара или технических характеристик возможного прибора;
- Позвоните по телефону +7 (495) 204-13-17 или 8 (800) 301-13-17 (бесплатный для регионов). Секретарь соединит Вас с менеджером, который поможет сделать заказ.
Оплата товара
Оплата товара производится только по безналичному расчету. Цены в счете указываются с НДС. Условия оплаты: 100% предоплата или 50/50% (предварительно обговариваются с клиентом, зависят от условий поставки товаров).
Доставка товара
Сроки поставки товара обговариваются на этапе заказа товара. Доставка мелкогабаритного товара в пределах Москвы осуществляется собственной курьерской службой. Сроки доставки товаров из наличия - 2-3 дня после оплаты товара.
Доставка товара в регионы осуществляется службой MAJOR EXRESS. Отследить доставку товара можно по номеру накладной на сайте компании.