подходящим для тестирования крупных образцов, таких как пластины, сверхбольшие решетки и оптическое стекло.
Описание атомно-силового микроскопа FM-Nanoview LS-AFM
Атомно-силовой микроскоп (АСМ) FM-Nanoview LS-AFM промышленного типа. Крупномасштабный промышленный атомно-силовой микроскоп.
Особенности и преимущества
-
Размер и вес образца практически не ограничены, что делает его особенно подходящим для тестирования крупных образцов, таких как пластины, сверхбольшие решетки и оптическое стекло;
-
Столик для образцов обладает высокой расширяемостью и очень удобен для комбинирования с другими приборами, что позволяет проводить in-situ детектирование (в реальном времени).
-
Автоматическое сканирование одним щелчком мыши, возможность программирования нескольких точек тестирования для быстрого и автоматизированного обнаружения.
-
Удерживайте образец неподвижным во время сканирования изображения и перемещайте зонд для выполнения трехмерной визуализации движения в координатах.
-
Конструкция с портальной сканирующей головкой, мраморным основанием (для снижения вибраций) и вакуумным столиком для фиксации образцов.
-
Интегрированные решения по гашению механических вибраций и экранированию шума окружающей среды значительно снижают уровень шума системы.
-
Интеллектуальный метод обеспечивает точное и безопасное подведение зонда к образцу за счёт автоматического определения пьезокерамики с управлением от двигателя.
-
Встроенный редактор для калибровки нелинейности сканера с поддержкой наноточных измерений (погрешность <2%).
Основные технические параметры атомно-силового микроскопа FM-Nanoview 1000 AFM
Параметры |
Описание |
Режим работы |
контактный режим, режим постукивания |
Дополнительный режим |
латеральной силы (LFM ) / силы трения (FFM), амплитудно-фазовый (API), магнитно-силовой (MFM), электростатический (EFM) |
Кривая спектра силы |
1.Кривая силы F-Z показывает, как сила F изменяется при приближении и удалении зонда от поверхности. 2.Измеряет среднеквадратичное (RMS) отклонение сигнала в зависимости от расстояния Z. |
Метод сканирования XYZ |
зонд (кантилевер) перемещается в трех измерениях (X,Y,Z), а образец остается неподвижным |
Диапазон сканирования по XY |
более 100х100мкм |
Угол сканирования Z |
более 10мкм |
Разрешение сканирования XY |
горизонтальное 0.2нм, вертикальное 0.05нм |
Точность перемещения по XY столика для образцов |
Управление приводом шагового двигателя с точностью перемещения 1 мкм |
Диапазон перемещения по XY |
200x200мм (опционально 300x300мм) |
Диаметр платформы для загрузки образцов |
200мм(опционально 300мм) |
Вес образца | < 20 кг |
Подъем столика по Z | управление приводом шагового двигателя с минимальным размером шага 10 нм |
Диапазон подъема по Z | 20 мм (опционально 25 мм) |
Оптическое позиционирование | 10-кратный оптический объектив |
Видеокамера | 5-мегапиксельная цифровая КМОП-матрица |
Частота сканирования | 0,6~30 Гц |
Угол сканирования | 0°~360° |
Операционная среда | Windows 10 |
Интерфейс связи | USB2.0/3.0 |
Конструкция прибора | портальная сканирующая головка и мраморное основание |
Метод демпфирования | пассивное: воздушный плавающий амортизирующий акустический экранирующий кожух (опционально - активная амортизационная платформа) |
Параметры |
Описание |
Режим работы |
контактный режим, режим постукивания |
Дополнительный режим |
латеральной силы (LFM ) / силы трения (FFM), амплитудно-фазовый (API), магнитно-силовой (MFM), электростатический (EFM) |
Кривая спектра силы |
1.Кривая силы F-Z показывает, как сила F изменяется при приближении и удалении зонда от поверхности. 2.Измеряет среднеквадратичное (RMS) отклонение сигнала в зависимости от расстояния Z. |
Метод сканирования XYZ |
зонд (кантилевер) перемещается в трех измерениях (X,Y,Z), а образец остается неподвижным |
Диапазон сканирования по XY |
более 100х100мкм |
Угол сканирования Z
|
более 10мкм |
Разрешение сканирования XY |
горизонтальное 0.2нм, вертикальное 0.05нм |
Точность перемещения по XY столика для образцов |
Управление приводом шагового двигателя с точностью перемещения 1 мкм |
Диапазон перемещения по XY |
200x200мм (опционально 300x300мм) |
Диаметр платформы для загрузки образцов |
200мм(опционально 300мм) |
Вес образца | < 20 кг |
Подъем столика по Z | управление приводом шагового двигателя с минимальным размером шага 10 нм |
Диапазон подъема по Z | 20 мм (опционально 25 мм) |
Оптическое позиционирование | 10-кратный оптический объектив |
Видеокамера | 5-мегапиксельная цифровая КМОП-матрица |
Частота сканирования | 0,6~30 Гц |
Угол сканирования | 0°~360° |
Операционная среда | Windows 10 |
Интерфейс связи | USB2.0/3.0 |
Конструкция прибора | портальная сканирующая головка и мраморное основание |
Метод демпфирования |
пассивное: воздушный плавающий амортизирующий акустический экранирующий кожух (опционально - активная амортизационная платформа) |
Диапазон сканирования по XY: | Более 100*100 мкм |
Угол сканирования Z: | Более 10 мкм |
горизонтальное 0.2нм, вертикальное 0.05нм: | Разрешение сканирования XY |
200x200мм (опционально 300x300мм): | Диапазон перемещения по XY |
Заказ товаров
Сделать заказ товара можно несколькими способами:
- Отправьте запрос на сайте через кнопку «ОТПРАВИТЬ ЗАПРОС НА КП» или «ЗАДАТЬ ВОПРОС»;
- Отправьте запрос на e-mail: info@sernia.ru с указанием конкретного товара или технических характеристик возможного прибора;
- Позвоните по телефону +7 (495) 204-13-17 или 8 (800) 301-13-17 (бесплатный для регионов). Секретарь соединит Вас с менеджером, который поможет сделать заказ.
Оплата товара
Оплата товара производится только по безналичному расчету. Цены в счете указываются с НДС. Условия оплаты: 100% предоплата или 50/50% (предварительно обговариваются с клиентом, зависят от условий поставки товаров).
Доставка товара
Сроки поставки товара обговариваются на этапе заказа товара. Доставка мелкогабаритного товара в пределах Москвы осуществляется собственной курьерской службой. Сроки доставки товаров из наличия - 2-3 дня после оплаты товара.
Доставка товара в регионы осуществляется службой MAJOR EXRESS. Отследить доставку товара можно по номеру накладной на сайте компании.