4200 SCS Keithley - система измерения параметров полупроводников

Модель 4200-SCS - система измерения параметров полупроводников (иначе параметрический анализатор 4200 SCS), обеспечивающая профессиональное снятие вольтамперных, вольтфарадных и импульсных характеристик полупроводниковых приборов. Снятие входных, выходных и передаточных характеристик полупроводниковых приборов и экстракция из них электрофизических параметров является одной из важнейших задач при разработке полупроводниковых приборов и микросхем. Данная задача требует одно- и двухканальных прецизионных источников, и измерителей напряжения и тока, работающих по согласованной программе измерений. Традиционно такие приборы называются характериографами, т.е. приборами для построения электрических характеристик.

Keithley 4200-SCS - анализатор полупроводниковых устройств

В настоящее время одним из самых известных производителей подобного оборудования является компания Keithley Instruments. Она выпускает многофункциональный модульный характериограф — модель 4200-SCS, обеспечивающий профессиональное снятие вольтамперных, вольтфарадных и импульсных характеристик полупроводниковых приборов.

Параметрические анализаторы 4200-SCS строятся на базе модульной, полностью интегрированной платформы и предназначаются для измерения электрических параметров материалов, полупроводниковых приборов и технологических процессов. Программное обеспечение помогает пользователю выполнять сложные измерения ВАХ и ВФХ, высокоскоростные измерения импульсных ВАХ и переходных процессов и генерировать сигналы произвольной формы для полного описания тестируемых устройств.

Основные достоинства Keithley 4200-SCS:

• Модульная архитектура – конфигурируемая и масштабируемая в соответствии с вашими потребностями
• Разрешение 0,1 фА и 1 мкВ
• Многочастотные, квазистатические и свехнизкочастотные измерения ВФХ
• Двухканальный быстродействующий модуль измерения импульсных ВАХ для анализа переходных процессов и саморазогрева
• В комплект поставки входят драйверы для наиболее распространенных зондовых станций.

Применение характериографа:

• общее тестирование устройств в импульсном режиме: МОП транзисторы, резисторы, диоды, конденсаторы и т.п.;
• измерение параметров КМОП: подкачка заряда, захват заряда, саморазогрев, надежность;
• тестирование энергонезависимой памяти: флэш, PCRAM;
• композитные полупроводниковые приборы и материалы: GaAs, GaN, лазерные диоды, измерение теплового импеданса;
• нанотехнологии и микроэлектромеханические устройства: полевые транзисторы на углеродных нанотрубках, датчики;
• солнечные батареи;
• тестирование других устройств: дисплеи на органических светодиодах, устройства со сверхпроводниками и многое другое.

Основные характеристики:

• Измерение ВАХ в диапазоне токов 0,1 фА до 1 А и напряжения от 1 мкВ до 210 В
• Измерение ВФХ в диапазоне до 400 В с разрешением 5 мВ, в частотном диапазоне от 1 кГц до 10 МГц
• Ультра быстрое и импульсное тестирование с временным разрешением 10 нс.

Модели Keithley 4200-SCS:

Дополнительные модули:

• 4210-CVU Измерение ВФХ
• 4225-PMU Высокоскоростные измерения ВАХ
• 4225-RPM Выносной усилитель/коммутатор
• 4220-PGU Высоковольтный генератор импульсов
• 4200-SMU Источник-измеритель средней мощности
• 4210-SMU Источник-измеритель высокой мощности
• 4200-PA Выносной опциональный предусилитель для 4200-SMU и 4210-SMU
• 4210-MMPC/X Универсальные высококачественные кабели
• 4200-SCP2 Плата двухканального осциллографа
• 4200-SCP2HR Плата двухканального осциллографа 200MS