ORBIS MICRO-XRF - спектрометр рентгенофлуоресцентный для неразрушающего элементного анализа образцов
Производитель: EDAX
Цена:
По запросу
По запросу
Измерение элементов: от Na до Bk
Рабочая среда: воздух / низкий вакуум
Размер пятна излучения: 300 мкм или 100 мкм
Рабочая среда: воздух / низкий вакуум
Размер пятна излучения: 300 мкм или 100 мкм
Мощный рентгенофлуоресцентный спектрометр, сконфигурированный для максимизации возможностей анализа широкого диапазона типов и размеров образцов.