SAM-MINI Acoulab - поверхностный акустический микроскоп для исследования полупроводников и промышленных материалов

SAM-MINI ACOULAB - поверхностный акустический микроскоп

Описание продукта

Поверхностный акустический микроскоп для небольших полупроводников и промышленных материалов. Привлекательная цена, высокая производительность и минимальные размеры серии Acoulab-SAM. Измерение местоположения и размер дефектов (Нарушение связей, расслоение, трещина) внутри материала или на его поверхности. Высококачественное точное сканируемое изображение. Сканирование в режимах - A, C, T Scan.

Спецификация

1. Ультразвуковой генератор/приёмник

• Диапазон частот: 1 – 50 МГц
• Достаточная полоса частот для проверки большинства печатных плат с EMC.

2. Аналогово-цифровой преобразователь

• Частота дискретизации 500MС/с в реальном времени, 8 бит

3. Механический сканер

• Ось сканирования (линейный серводвигатель), максимальная скорость 750 мм/с, повторяемость +/-1 микрон, разрешение энкодера 1 микрон
• Ось индекса – микрошаговый двигатель со свинцовым винтом, шаг 1 мкм.
• Вертикальная ось - микрошаговый двигатель со свинцовым винтом, максимальный ход 80 мм, шаг 1 микрон

4. Общее

• Размеры резервуара для иммерсионной жидкости 430мм X 410мм X 90мм
• Область сканирования 350мм X 100мм X 80мм
• Размеры основного блока 720мм X 715мм X 425мм
• Вес ~ 35 кг

Тип продукта:

Метрология & Обработка

Применение:

Линейные и угловые измерения полупроводниковых пластин