Компания Keithley помогает разработчикам и производителям поставлять на рынок лучшие полупроводниковые приборы нового поколения, предлагая самые эффективные, полностью автоматические параметрические тестеры, параметрические анализаторы, повышающие скорость тестирования, ускоряющие продвижение изделий на рынок и охватывающие множество типов устройств, а также предоставляя программное обеспечение для тестирования и анализа полупроводниковых приборов.
Параметрический анализатор 4200-SCS
Параметрические анализаторы 4200-SCS строятся на базе модульной, полностью интегрированной платформы и предназначаются для измерения электрических параметров материалов, полупроводниковых приборов и технологических процессов. Программное обеспечение помогает пользователю выполнять сложные измерения ВАХ и ВФХ, высокоскоростные измерения импульсных ВАХ и переходных процессов и генерировать сигналы произвольной формы для полного описания тестируемых устройств.
Параметрический характериограф PCT (различные конфигурации)
Параметрический характерисграф PCT компании Keithley представляет собой законченное решение, укомплектованное различными высококачественными приборами, кабелями, тестовой оснасткой и программным обеспечением для измерения параметров силовых устройств.
Такая легко конфигурируемая система дает преимущества простоты обновления или модификации в соответствии с изменяющимися контрольно-измерительными потребностями.
Параметрические системы тестирования S530 и интегрированные системы тестирования S500
Системы для параметрического тестирования полупроводниковых приборов Keithley S530 могут выполнять измерения по постоянному току и построение ВФХ, необходимые для мониторинга и контроля качества технологических процессов, а также для измерения параметров устройств.
Эти параметрические системы тестирования используются на производстве и в лабораториях, охватывая широкий диапазон устройств и технологий.
Для специальных приложений интегрированные системы тестирования S500 могут поставляться в заказной конфигурации.
| 4200-SCS | PCT (различные конфигурации) | Параметрические системы тестирования S500 и 530 | ПО для автоматизированных измерений ACS, ACS Basic | |
|---|---|---|---|---|
| Параметрический анализатор полупроводниковых приборов и материалов | Параметрический характериограф для измерения параметров силовых устройств | Параметрические системы тестирования для производственных и исследовательских цепей | ПО для автоматизированного измерения параметров полупроводниковых приборов | |
| Типичные тестируемые устройства | Устройства и материалы, связанные с технологией КМОП, энергонезависимая память, MEMS, приборы на основе соединений элементов III и V групп, TFT, солнечные батареи, наноустройства | Полупроводниковые приборы, включая БТИЗ, МОП транзисторы, биполярные транзисторы, симисторы, тиристоры, диоды и др.устройства, используемые в силовых цепях | Тестирование полупроводниковых приборов на уровне полупроводниковых пластин, изготовленных по технологиям КМОП, LDMOS, III-V, MEMS, TFT | Тестирование полупроводниковых приборов индивидуально или на уровне полупроводниковых пластин для технологий КМОП, энергонезависимой памяти, MEMS, III-V, TFT и устройства, используемые в силовых цепях |
| Применение | Измерение параметров полупроводниковых приборов, исследование материалов, контроль надежности устройств и анализ отказов | Измерение параметров полупроводниковых приборов, инспекция и анализ отказов | Мониторинг технологических процессов, автоматическое измерение параметров, анализ надежности на уровне полупроводниковых пластин и сортировка кристаллов | Измерение параметров полупроводниковых приборов, анализ надежности на уровне полупроводниковых пластин, параметрическое тестирование и сортировка кристаллов |
| Измерительные функции | ВАХ, ВФХ, высокоскоростные измерения ВАХ, импульсы | Измерения ВАХ маломощных и силовых приборов, измерения ВФХ | ВАХ, ВФХ, частота и импульсы | Построение графиков в режиме реального времени и анализ результатов, полученных от приборов Keithley 2600S, 4200, S500, S530 |