Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Системы тестирования полупроводниковых приборов

Выбрать Производителя
Выбрать Отрасль
Количество на странице:
20
Заявка на оборудование 1

Компания Keithley помогает разработчикам и производителям поставлять на рынок лучшие полупроводниковые приборы нового поколения, предлагая самые эффективные, полностью автоматические параметрические тестеры, параметрические анализаторы, повышающие скорость тестирования, ускоряющие продвижение изделий на рынок и охватывающие множество типов устройств, а также предоставляя программное обеспечение для тестирования и анализа полупроводниковых приборов.

Параметрический анализатор 4200-SCS

91bccb5ec8082d3ae0f57a4c88480163.jpgПараметрические анализаторы 4200-SCS строятся на базе модульной, полностью интегрированной платформы и предназначаются для измерения электрических параметров материалов, полупроводниковых приборов и технологических процессов. Программное обеспечение помогает пользователю выполнять сложные измерения ВАХ и ВФХ, высокоскоростные измерения импульсных ВАХ и переходных процессов и генерировать сигналы произвольной формы для полного описания тестируемых устройств.


Параметрический характериограф PCT (различные конфигурации)

a5007701671a9c4f8ac04a7e0010c15f.jpgПараметрический характерисграф PCT компании Keithley представляет собой законченное решение, укомплектованное различными высококачественными приборами, кабелями, тестовой оснасткой и программным обеспечением для измерения параметров силовых устройств. 

Такая легко конфигурируемая система дает преимущества простоты обновления или модификации в соответствии с изменяющимися контрольно-измерительными потребностями. 


Параметрические системы тестирования S530 и интегрированные системы тестирования S500

7de7667102ceeacc0174340cbf14f475.jpgСистемы для параметрического тестирования полупроводниковых приборов Keithley S530 могут выполнять измерения по постоянному току и построение ВФХ, необходимые для мониторинга и контроля качества технологических процессов, а также для измерения параметров устройств. 

Эти параметрические системы тестирования используются на производстве и в лабораториях, охватывая широкий диапазон устройств и технологий. 

Для специальных приложений интегрированные системы тестирования S500 могут поставляться в заказной конфигурации.

Заявка на оборудование 3


4200-SCS PCT (различные конфигурации) Параметрические системы тестирования S500 и 530 ПО для автоматизированных измерений ACS, ACS Basic
Параметрический анализатор полупроводниковых приборов и материалов Параметрический характериограф для измерения параметров силовых устройств Параметрические системы тестирования для производственных и исследовательских цепей ПО для автоматизированного измерения параметров полупроводниковых приборов
Типичные тестируемые устройства Устройства и материалы, связанные с технологией КМОП, энергонезависимая память, MEMS, приборы на основе соединений элементов III и V групп, TFT, солнечные батареи, наноустройства Полупроводниковые приборы, включая БТИЗ, МОП транзисторы, биполярные транзисторы, симисторы, тиристоры, диоды и др.устройства, используемые в силовых цепях Тестирование полупроводниковых приборов на уровне полупроводниковых пластин, изготовленных по технологиям КМОП, LDMOS, III-V, MEMS, TFT Тестирование полупроводниковых приборов индивидуально или на уровне полупроводниковых пластин для технологий КМОП, энергонезависимой памяти,  MEMS, III-V, TFT и устройства, используемые в силовых цепях
Применение Измерение параметров полупроводниковых приборов, исследование материалов, контроль надежности устройств и анализ отказов Измерение параметров полупроводниковых приборов, инспекция и анализ отказов Мониторинг технологических процессов, автоматическое измерение параметров, анализ надежности на уровне полупроводниковых пластин и сортировка кристаллов Измерение параметров полупроводниковых приборов, анализ надежности на уровне полупроводниковых пластин, параметрическое тестирование и сортировка кристаллов
Измерительные функции ВАХ, ВФХ, высокоскоростные измерения ВАХ, импульсы Измерения ВАХ маломощных и силовых приборов, измерения ВФХ ВАХ, ВФХ, частота и импульсы Построение графиков в режиме реального времени и анализ результатов, полученных от приборов Keithley 2600S, 4200, S500, S530
Заявка на оборудование 2