Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Микроскопы электронно-ионные FEI

Выбрать Производителя
Выбрать Отрасль
Количество на странице:
20
Электронно-ионные микроскопы (DualBeams) — это двулучевые системы, которые представляют собой комбинирование сканирующего электронного (СЭМ) и ионного микроскопов (ФИП).

В системе двух пучков ФИП и СЭМ идеально дополняют друг друга, создавая новые возможности для микроскопических исследований. Например, ФИП-изображения очень полезны из-за высокой контрастной способности, а СЭМ обладает более высоким разрешением, и его использование не повреждает образца. Ионный пучок также используется для подготовки образцов для исследований в ПЭМ.

В данном разделе представлены наиболее передовые  двулучевые системы производства компании FEI, используемые для исследований в микроэлектронике, материаловедении, биологии.