Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Статьи и обзоры

Производитель
Отрасль
Категория
Количество на странице:
15
РЕШЕНИЯ TEKTRONIX ДЛЯ АЭРОКОСМИЧЕСКОЙ И ОБОРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
20 Ноября 2017
Комплексная система для анализа отказов в микроэлектронике
Фото-эмисионная установка Meridian IV является гибким инструментом для решения задач, представленных для параметрического анализа плавающих дефектов.
26 Сентября 2017
Упрощение проверки последовательности подачи питания с помощью 8- канального осциллографа
Проверка последовательности подачи питания с помощью 8- канального осциллографа
25 Сентября 2017
Технология атомно-слоевого осаждения Picosun для производства СВЧ-микроэлектроники
Picosun и Национальный университет Chiao Tung (Тайвань) начали сотрудничество по совершенствованию устройств на основе GaN.
22 Сентября 2017
Инновации в контрольно-измерительных технологиях
Производство новых осциллографов смешанных сигналов Tektronix серии 5 – взгляд из-за кулис
18 Августа 2017
Метод глубинного реактивного ионного травления
Глубокое реактивное ионное травление - метод, используемый для глубокого травления полупроводников
27 Июля 2017
Плазменная обработка композиционных материалов для аэрокосмической промышленности
Плазменная обработка полимерных и композиционных материалов имеет  преимущества в тех случаях, когда требуется выполнить очистку поверхности или соединить неоднородные поверхности.
25 Июля 2017
Генератор ВЧ и СВЧ сигналов R&S®SMA100B
R&S SMA100B - генератор сигналов, способный генерировать сигналы сверхвысокой мощности с низким содержанием шумов
24 Июля 2017
Cистема измерения электрических характеристик для ACM
ResiScope II – система, способная измерять сопротивление с высокой чувствительностью и разрешением
19 Июня 2017
MSO5 Tektronix - комбинированный осциллограф смешанных сигналов с технологией FlexChannel
MSO5 Tektronix- революционный осциллограф, который меняет представление об измерениях
06 Июня 2017
Сканирующая Микроволновая Импедансная Микроскопия (сМИМ)
Сканирующая Микроволновая Импедансная Микроскопия (sMIM) - новый режим визуализации с использованием АСМ
29 Мая 2017
Просвечивающий электронный микроскоп FEI Talos L120C TEM для материаловедения
Talos™ L120C TEM  - это ПРЭМ и ПЭМ,  обеспечивающий изображения высокого контраста и разрешения
17 Апреля 2017
Плазменная очистка для микроэлектроники
Плазменная обработка является важным производственным инструментом более 30 лет, например, в производстве микроэлектронных устройств. За этот период плазменные процессы проникли и в гораздо более широкий круг отраслей: автомобильная промышленность, медицинскую отрасль, текстильную промышленность, обработка пластика и т.д.
21 Марта 2017
Тестирование лазерных диодов с помощью источника-измерителя Keithley 2602B
Система автоматизации измерений прибора Keithley 2602B сокращает расходы на тестирование и разработку при неизменно превосходном результате.
20 Марта 2017
Атомно-силовой микроскоп Nano-Observer CSI
Новый атомно-силовой микроскоп от французского производителя Concept Scientific Instruments
13 Марта 2017