Соединяя
науку и технологии
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17
office@sernia.ru

Статьи и обзоры

Производитель
Отрасль
Категория
Количество на странице:
15
Cистема измерения электрических характеристик для ACM
ResiScope II – система, способная измерять сопротивление с высокой чувствительностью и разрешением
19 Июня 2017
MSO5 Tektronix - комбинированный осциллограф смешанных сигналов с технологией FlexChannel
MSO5 Tektronix- революционный осциллограф, который меняет представление об измерениях
06 Июня 2017
Сканирующая Микроволновая Импедансная Микроскопия (сМИМ)
Сканирующая Микроволновая Импедансная Микроскопия (sMIM) - новый режим визуализации с использованием АСМ
29 Мая 2017
Просвечивающий электронный микроскоп FEI Talos L120C TEM для материаловедения
Talos™ L120C TEM  - это ПРЭМ и ПЭМ,  обеспечивающий изображения высокого контраста и разрешения
17 Апреля 2017
Плазменная очистка для микроэлектроники
Плазменная обработка является важным производственным инструментом более 30 лет, например, в производстве микроэлектронных устройств. За этот период плазменные процессы проникли и в гораздо более широкий круг отраслей: автомобильная промышленность, медицинскую отрасль, текстильную промышленность, обработка пластика и т.д.
21 Марта 2017
Тестирование лазерных диодов с помощью источника-измерителя Keithley 2602B
Система автоматизации измерений прибора Keithley 2602B сокращает расходы на тестирование и разработку при неизменно превосходном результате.
20 Марта 2017
Атомно-силовой микроскоп Nano-Observer CSI
Новый атомно-силовой микроскоп от французского производителя Concept Scientific Instruments
13 Марта 2017
АСО – технология для производств будущего
АСО - перспективная технология нанесения тонких пленок, которая позволяет наносить пленки почти на любые типы поверхностей.
13 Марта 2017
Тестирование светодиодов
В статье рассказывается, как при помощи приборов Keithley 2510 и 2510-AT можно тестировать светодиоды и лазерные диоды.
16 Февраля 2017
Доклинические исследования опухолей: единое решение MILabs для множества приложений
В статье рассказывается, какие методы используются для исследования опухолей
10 Февраля 2017
Лазерная декапсуляция - новая технология для микроэлектроники
Возможности лазерного излучения позволяют добиться быстрого и эффективного процесса  декапсуляции чипа, при этом минимизировав влияние на соединительные провода и элементы самой интегральной схемы.
27 Января 2017
Keithley 4200A-SCS - новый параметрический анализатор
По сравнению со своим предшественником, системой Keithley 4200-SCS, новая модель Keithley 4200A-SCS имеет эргономичную конструкцию корпуса и органов управления.
26 Января 2017
Как улучшить качество изображений на цифровом микроскопе
Советы от производителя цифровых микроскопов Keyence, как максимально использовать дополнительные возможности микроскопа
24 Января 2017
Анализатор спектра RSA600A: максимальный результат за минимальные вложения
Новое поколение анализаторов спектра реального времени
20 Января 2017
Как выбрать источник-измеритель
В статье рассказывается, на какие характеристики необходимо обращать внимание при выборе источника-измерителя.
28 Ноября 2016