Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Оборудование для защиты от магнитных полей (подавления магнитных помех)

Выбрать Производителя
Выбрать Отрасль
Количество на странице:
20

Защита от магнитных помех для микроскопии

tmc-etc.pngМикроскопы, использующие в своей работе электронный пучок, требуют защиты от магнитных помех, вносящих нежелательные искажения при формировании изображения. Искажения  могут быть вызваны магнитным полем от электросети, или медленно изменяющимся магнитным полем, например, от лифтов или транспортных средств, движущихся рядом. Самая большая проблема исходит от переменного магнитного поля, создаваемого силовыми кабелями.



Для того, чтобы исключить влияние нежелательных магнитных полей на формирование электронного пучка в микроскопе, используют специальную систему защиты — так называемую "рамку для микроскопа". В данном разделе представлены "защитные рамки" или системы подавления магнитных полей от производителей TMC и ETS-Lindgren