Соединяя
науку и технологии
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17
office@sernia.ru

Cистема измерения электрических характеристик для ACM

ResiScope II – система измерения электрических характеристик для АСМ

В сегодняшней статье речь пойдет о дополнительных возможностях атомно-силовых микроскопах, а именно о дополнительных системах для АСМ, при помощи которых можно проводить высоко прецизионные электрические измерения.

Компания CSI Instruments - французский производитель атомно-силовых микроскопов и дополнительного оборудования для АСМ - разработала новую систему ResiScope II для проведения электрических измерений на атомно-силовом микроскопе Nano Observer.

ResiScope.JPGResiScope II – это продолжение модуля ResiScope, который был разработан для проведения контактных АСМ экспериментов. Новый модуль ResiScope II - это система получения данных об электрическом сопротивлении образца с большим разрешением. Этот модуль можно комбинировать с другими модулями: MFM/EFM (AC/MAC) и KFM (AC/MAC III) для получения различной информации от одного и того же участка образца. Измерения проводятся за счет подачи потенциала между образцом и проводящей головкой зонда.

ResiScope II - это уникальная система, способная измерять сопротивление в диапазоне 10 порядков с высокой чувствительностью и разрешением. Измерения производятся с помощью постоянного тока, протекающего между образцом и приводящим зондом АСМ. Зонд сканирует в контактном режиме с помощью отклонения лазерного луча для обратной связи АСМ. В качестве независимого измерителя, ResiScope II измеряет сопротивление образца через высокопроизводительный усилитель (HPA).

Комбинируя этот модуль с другими модулями: MFM/EFM (AC/MAC) и KFM (AC/MAC III) Вы получите различную информацию от одного и того же участка образца. Измерения проводятся за счет подачи потенциала между образцом и проводящей головкой зонда. Таким образом, Вы сможете получить несколько характеристик образца в одной и той же области сканирования.

Принцип работы системы ResiScope

Принцип работы ResiScopeII.JPG

Характеристики и возможности системы ResiScope

ResiScope - это двойная измерительная система, которая имеет следующие отличительные  характеристики и возможности:

  • Измеряет сопротивление образца
  • Измеряет ток (& IV спектроскопия)
  • Совместима с режимом генерации (Tapping / AC режим )
  • Совместима с EFM/MFM или однопроходным KFM
  • Измеряет сопротивление от 102 Ом до 1012 (10 порядков)
  • Выходная информация: R, Log R, Ток & I/V спектроскопия

Области применения:

  • Фотоэлектрические приборы
  • Полупроводники
  • Диагностика оксидов
  • Диагностика проводящих материалов
Фотоволтаика.JPG

AC mode_KFM_.JPG

Нанолитография.JPG

Полупроводники.JPG

Технические характеристики

Диапазон сопротивлений

От 10² Ом до 1012 Ом

Диапазон тока
(режим ResiScope)

От 50 фA до 1 мA

Совместимость с АСМ

CSInstruments: Nano-Observer

Режимы, совместимые с АСМ

Contact / Tapping / AC mode EFM / MFM / KFM single-pass

Окружающая среда

Windows® XP. 7, 8, 10, SP3 Framework DotNet 3.5 SP1
1 USB порт

Питание

AC 100‐240 В, 47‐63 Гц, 1 A

Вес

2 кг

Награды ResiScope II

Если Вас заинтересовало данное оборудование, обращайтесь в нашу компанию. Наши специалисты расскажут подробно об атомно-силовых микроскопах CSI Instruments и сориентируют Вас по ценам на продукцию.
ПОДРОБНЕЕ ОБ АСМ NANOOBSERVER>>