Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Apreo SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения

Apreo SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения
Цена: По запросу
Производитель: FEI Flag
Самый универсальный и эффективный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Подходит для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств.
  • Описание
  • Документация

Apreo SEM FEI - новый сканирующий электронный микроскоп для материаловедения

Универсальный микроскоп

Революционная конструкция объектива Apreo сочетают в себе электростатический и магнитный методы погружения для получения высочайшего разрешения и выбора сигнала. Уникальная система детектирования, режим низкого вакуума при высоком давлении, а также смарт-сканирование предлагают множество вариантов для решения сложных задач. Такая универсальность делает Apreo популярной платформой для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств без ущерба для магнитных свойств образцов.

Особенности конструкции и функции

Apreo имеет преимущество благодаря уникальной системе обнаружения обратного рассеяния, которая обеспечивает отличную контрастность материалов, даже при наклоне, коротком рабочем расстоянии или на чувствительных образцах. Новый объектив дополнительно улучшает контраст с фильтрацией энергии и добавляет фильтрацию заряда для работы с изображениями непроводящих образцов. Дополнительный режим низкого вакуума теперь имеет максимальное давление в камере 500 Па для визуализации даже самых требовательных изоляторов.

С учетом всех этих опций, в том числе подсоединения финального объектива, передовой технологии обнаружения и гибкой обработки проб, производительность и универсальность Apreo будет соответствовать вашим требованиям в течение многих последующих лет.

Преимущества СЭМ Apreo:

  • Уникальный конечный объектив обеспечивает исключительное разрешение 1,0 нм при 1 кВ без необходимости замедления пучка – даже если образец наклонен или рельефный.

  • Наиболее полезен для обнаружения обратного рассеяния – контраст материала всегда доступен, даже при низком напряжении и токе пучка, под любым углом, на чувствительных образцах и при визуализации TV-скорости.

  • Непревзойденная гибкость детектора – получение контраста или интенсивности сигнала путем объединения информации из отдельных сегментов детектора.

  • Самый широкий диапазон стратегий смягчения заряда, в том числе режим низкого вакуума с давлением камеры до 500 Па, что позволяет визуализировать любой образец.

  • Превосходная аналитическая платформа обеспечивает высокие токи пучка и пятна небольшого размера. Камера поддерживает три EDS детектора, копланарный EDS & EBSD, и оптимизирована для аналитики низкого вакуума.

  • Самая простая обработка образцов и навигация с многоцелевым держателем образца и Nav-Cam+.

  • Экспертные результаты для новых пользователей при помощи расширенного руководства пользователя, пресетов и понятного интерфейса.