
По запросу
Verios XHR SEM FEI - новое поколение сканирующих электронных микроскопов с экстремально высоким разрешением. Обеспечивает субнанометровое разрешение при ускоряющем напряжении от 1 кВ до 30 кВ с исключительным контрастом изображения.

По запросу
Разрешение ионного пучка: 5 нм при 30 кВ СПЭМ
Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.

По запросу
Vion Plasma FIB — система с фокусированным ионным пучком (ФИП/FIB) FEI
По запросу
Система на базе СЭМ для получения высококачественных данных о трехмерной структуре образца (3D), полученных на основе большого объема выборок с высоким разрешением и хорошей изотропностью.

По запросу
FM-Nanoview 1000 AFM - недорогой атомно-силовой микроскоп китайского производства.
Высокоэффективный АСМ, отличающийся простотой в использовании, высоким разрешением и быстротой построения изображения без потери качества. Микроскоп отлично подойдет для контактных исследований шероховатости поверхности.

По запросу
Новинка!!!
АСМ Nano-Observer CSI - гибкий инструмент для исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности. Интуитивно понятный интерфейс позволяет быстро овладеть навыками использования АСМ.

По запросу
Tecnai™ с i-корректором — комбинация просвечивающего электронного и флуоресцентного микроскопов. Система позволяет исследовать биологические образцы в просвечивающем и флуоресцентном режимах одновременно, не вынимая образец из камеры.

По запросу
Увеличение с одним объективом - до 100х
Увеличение с двумя объективами - до 2000х

По запросу
Точность по Z: 1 мкм
Рабоче расстояние: 60 мм
Оптический микроскоп PA53MET 3D – металлографический микроскоп с функцией 3D моделирования.
Точность измерений:
по осям X/Y = 0,3 мкм
по оси Z = 1 мкм
Рабочее расстояние Z - 60 мм.

По запросу
Новинка!!!
ResiScope II – это продолжение модуля ResiScope, который был разработан для проведения контактных АСМ экспериментов. Новый модуль ResiScope II - это система получения данных об электрическом сопротивлении образца с большим разрешением.
ResiScope II используется для исследований на АСМ Nano-Observer CSI - конфигурируемый АСМдля исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности.

По запросу
НОВИНКА!!!
Микроскоп VR-3000 Keyence поддерживает большой спектр измерений и может быть использован как оптический профилометр и измеритель шероховатости.

По запросу
Микроскоп Keyence VHX-5000 — новые возможности цифровой микроскопии. С помощью VHS5000 Вы легко и быстро решите сложные задачи в микроэлектроники, машиностроении, материаловедении, минералогии, криминалистике, биологии и пр. Такой обширный спектр применения объясняется уникальными технологическими особенностями прибора.

По запросу
VHX6000 KEYENCE - усовершенствованная модель микроскопа VHX5000. Обладает более продвинутой системой построения и обработки изображения и расширенными измерительными и аналитическими возможностями.

По запросу
Keyence VK-X100/X200 — конфокальный лазерный сканирующий микроскоп

По запросу
Новинка!!!
BZ-X700 устанавливается в любом месте благодаря своим компактным размерам и встроенной "темной комнате".
Огороженная камера встроена в корпус микроскопа, что позволяет пользователям получать флуоресцентные изображения даже в ярко освещенной комнате. Кроме того, система может быть помещена в отдельное помещение или контролируемую зону, что снижает риск ненадлежащей работы с образцом и загрязнения.
Доступны несколько режимов наблюдения. Включает флюоресценцию, светлое поле и фазовый контраст в одном блоке.