Соединяя науку и технологии office@sernia.ru
пн-пт 10:00 – 19:00
сб-вс выходные
+7 (495) 204 13 17
8 (800) 301 13 17

Система анализа оптоволокна Photon Kinetics 2300

Производитель:
Photon Kinetics Flag
Новый промышленный стандарт в измерении характеристик оптических волокон
Задать вопрос
Цена с НДС:
По запросу
Доставка по всей России бесплатно
Подробнее о доставке здесь
  • Детальное описание
  • Оплата и доставка
  • Демонстрация

Анализатор оптоволокна 2300 Photon Kinetics

На протяжении 20 лет модель анализатора волокна 2200 Photon Kinetics и система измерения геометрии 2400 Photon Kinetics являются промышленными стандартами для измерения длины волны отсечки (спектральных потерь) и геометрических характеристик.

Новая система анализа оптоволокна 2300 Photon Kinetics является первой системой, объединяющей в себе эти измерения в одну испытательную станцию.

Устранение избыточной подготовки и обработки волокна позволит производителям сократить время и затраты, связанные с этими важными измерениями, более чем на 50 %.

Возросшая скорость сбора данных новой системы обеспечивает еще большее сокращение издержек и увеличение пропускной способности.

Проводимые измерения

Новая система анализа оптоволокна 2300 в полной комплектации способна проводить измерения следующих параметров:

  • Геометрия волокна

  • Спектральные потери

  • Длина волны отсечки

  • Диаметр модового пятна

  • Геометрия покрытия волокна

  • Изгиб волокна

Производительность

Измерения

Время (сек)

Геометрия и длина волны отсечки

15

Геометрия, длина волны отсечки и спектральные потери

30

Геометрия, длина волны отсечки, спектральные потери, диаметр модового пятна

60

Особенности и преимущества:

Комбинированные, высокоэффективные измерения геометрии и длины волны отсечки волокна

·         Общая подготовка для двух, наиболее важных «коротковолновых» измерений

·         Сокращает общее время измерения волокна более чем на 50%

·         Самая высокая скорость измерения по сравнения с имеющимися аналогами.

Модульный дизайн

·         Сочетание спектральных потерь и геометрических характеристик для максимальной производительности

·         Система для измерения только спектральных потерь одномодовых (ОМ) и многомодовых (ММ) волокон

·         Система для измерения только геометрических параметров ОМ и ММ волокон

·         Дополнительные модули для высокоскоростных измерений диаметра модового пятна, геометрии покрытия и изгиб волокна

Инновационные методы обработки волокна

·         Запатентованный стол помогает провести измерения без каких-либо корректировок, облегчает удаление образца

·         Прилагаемый скалыватель упрощает процесс скола волокна и загрузки/выгрузки исследуемого образца

·         Держатель катушки идеально подходит для длительных измерений волоконных характеристик.

Простой и удобный интерфейс оператора

·         Компьютер «всё в одном» с сенсорным экраном и всеми подключенными опциями

·         Новый мощный PKSL язык предоставляет клиентам полный контроль над всем процессом измерения.

·         Позволяет легко создавать последовательность измерений.