пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

Нанозонды SA Mesoscope для исследований в СЭМ

Производитель:
Mesoscope
Серия SA изготовлена из вольфрама и используется для нанозондов в СЭМ. Идеально подходит для исследования полупроводниковых приборов размером до 20 нм.
Задать вопрос
Цена с НДС:
По запросу
Доставка по всей России бесплатно
Подробнее о доставке здесь
  • Детальное описание
  • Оплата и доставка

Нанозонды для использования в СЭМ

Зонд изготовлен из вольфрама и используется в нанозондовых станциях в СЭМ (SEM). Идеально подходит для исследования полупроводниковых приборов c технологией ≤5 нм. Совместим со станциями FEI/Zeiss/Kleindiek/Imina/JEOL Nano prober system.

Серия

Диаметр проволоки основания (WD) мм

Полная длина зонда (TPL) мм

Длина конуса схождения к острию (TC) мм

Тип угла острия

Радиус закругления иглы (CR) нм

Угол изгиба зонда (Bent angel)

Целевая технология, нм

SA

0.25

13

2.5

А1-А3

5,10,20,35,

50,100,150,

200,250

0, 34

<2, <5, 5-10, 7-10, 10-20

SA

0.50

15

2.5

A1-A3

5,10,20,35,

50,100,150

 

-

<2, <5, 5-10, 7-10, 10-20, 14-20, 20-45, >55, >90, >130, >180.


Возможность изготовления зонда SA 025 со следующими формами изгиба:
  • одиночный изгиб зонда
  • двойной изгиб зонда
Одиночный изгиб
рис.Зонд с одиночным изгибом.

Зонд для СЭМ с двойным изгибом
рис.Зонд с двойным изгибом

Похожие товары
Обратите внимание на похожие модели и аналоги, как альтернативу вашему выбору.