
7 813 c
Радиус кривизны: менее 75 нм
Диаметр стержня зонда (WD): 0.5 мм
Общая длина зонда (TPL): 37 мм
Нанозонды типа CR75 для пробоподготовки в ПЭМ.
Радиус кривизны менее 75 нм.

7 813 c
Радиус кривизны: менее 75 нм
Диаметр стержня зонда (WD): 0.5 мм
Общая длина зонда (TPL): 37 мм
Нанозонды типа CR75 для пробоподготовки в ПЭМ.
Радиус кривизны менее 75 нм.

50 105 c
Технологическая норма: ниже 3 нм
Размер образца: до 20 нм
Специализация: Hitachi Nano prober system
Радиус кривизны зонда: менее 5 нм
Диаметр стержня зонда : 0,6 мм
Длина конуса: 2 мм
Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа UCR5 (Ultra CR5) для нанозондирования в СЭМ Hitachi.
Технологический процесс ниже 3 нм.
Радиус кривизны менее 5 нм.
Размер образца - до 20 нм.
34 787 c
Технологическая норма: менее 5 нм
Радиус кривизны: менее 5 нм
Размер образца: до 20 нм
Диаметр стержня зонда : 0,25 мм
Длина конуса: 2,5 мм
Длина зонда (общая): 12,5 мм
Нанозонды типа UCR5 (Ultra CR5) для нанозондирования в СЭМ.
Технологический процесс менее 5 нм.
Радиус кривизны менее 5 нм.
Размер образца - до 20 нм.
36 961 c
Технологическая норма: менее 3 нм
Радиус кривизны: менее 5 нм
Размер образца: до 20 нм
Диаметр стержня зонда : 0,25 мм
Длина конуса: 2,5 мм
Длина зонда (общая): 12,5 мм
Нанозонды типа UCR5+ (Ultra Plus CR5) для нанозондирования в СЭМ.
Технологический процесс менее 3 нм.
Радиус кривизны менее 5 нм.
Размер образца - до 20 нм.

35 577 c
Радиус кривизны: менее 5 нм
Диаметр стержня зонда (WD): 0.5 мм
Общая длина зонда (TPL): 35 мм
Длина усадки конуса (CSL): UL1(80 мкм-140 мкм)
Нанозонды типа UCR5 (Ultra CR5) для пробоподготовки в ПЭМ.
Радиус кривизны менее 5 нм.
Длина усадки конуса - UL1(80 мкм-140 мкм)

39 530 c
Радиус кривизны: менее 5 нм
Диаметр стержня зонда (WD): 0.5 мм
Общая длина зонда (TPL): 35 мм
Длина усадки конуса (CSL): UL2 (140 мкм - 200 мкм)
Нанозонды типа UCR5 (Ultra CR5) для пробоподготовки в ПЭМ.
Радиус кривизны менее 5 нм.
Длина усадки конуса - UL2 (140 мкм -200 мкм)

51 389 c
Технологическая норма: ниже 3 нм
Размер образца: до 20 нм
Специализация: Hitachi Nano prober system
Радиус кривизны зонда: менее 5 нм
Диаметр стержня зонда : 0,6 мм
Длина конуса: 2 мм
Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа UCR5+ (Ultra CR5 Plus) для нанозондирования в СЭМ Hitachi.
Технологический процесс ниже 3 нм.
Радиус кривизны менее 5 нм.
Размер образца - до 20 нм.

По запросу
В данном разделе находится оборудование для дополнительного оснащения электронно-ионных микроскопов, а именно манипуляторы, устанавливаемые в камеру электронно-ионного микроскопа.