Материал: вольфрам без покрытия + медная трубка Технологическая норма: ниже 3 нм Размер образца: до 20 нм Специализация: Hitachi Nano prober system Радиус кривизны зонда: менее 5 нм Диаметр стержня зонда : 0,6 мм Длина конуса: 2 мм Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа UCR5 (Ultra CR5) для нанозондирования в СЭМ Hitachi.
Материал: вольфрам без покрытия Технологическая норма: менее 5 нм Радиус кривизны: менее 5 нм Размер образца: до 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,25 мм Длина конуса: 2,5 мм Длина зонда (общая): 12,5 мм
Нанозонды типа UCR5 (Ultra CR5) для нанозондирования в СЭМ.
Материал: вольфрам без покрытия Технологическая норма: менее 3 нм Радиус кривизны: менее 5 нм Размер образца: до 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,25 мм Длина конуса: 2,5 мм Длина зонда (общая): 12,5 мм
Нанозонды типа UCR5+ (Ultra Plus CR5) для нанозондирования в СЭМ.
Материал: вольфрам без покрытия Радиус кривизны: менее 5 нм Диаметр стержня зонда (WD): 0.5 мм Общая длина зонда (TPL): 35 мм Длина усадки конуса (CSL): UL1(80 мкм-140 мкм)
Нанозонды типа UCR5 (Ultra CR5) для пробоподготовки в ПЭМ.
Радиус кривизны менее 5 нм.
Длина усадки конуса - UL1(80 мкм-140 мкм)
Материал: вольфрам без покрытия Радиус кривизны: менее 5 нм Диаметр стержня зонда (WD): 0.5 мм Общая длина зонда (TPL): 35 мм Длина усадки конуса (CSL): UL2 (140 мкм - 200 мкм)
Нанозонды типа UCR5 (Ultra CR5) для пробоподготовки в ПЭМ.
Радиус кривизны менее 5 нм.
Длина усадки конуса - UL2 (140 мкм -200 мкм)
Материал: вольфрам без покрытия + медная трубка Технологическая норма: ниже 3 нм Размер образца: до 20 нм Специализация: Hitachi Nano prober system Радиус кривизны зонда: менее 5 нм Диаметр стержня зонда : 0,6 мм Длина конуса: 2 мм Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа UCR5+ (Ultra CR5 Plus) для нанозондирования в СЭМ Hitachi.
В данном разделе находится оборудование для дополнительного оснащения электронно-ионных микроскопов, а именно манипуляторы, устанавливаемые в камеру электронно-ионного микроскопа.
