Соединяя науку и технологии office@sernia.ru
пн-пт 10:00 – 19:00
сб-вс выходные
+7 (495) 204 13 17
8 (800) 301 13 17

ORBIS MICRO-XRF - спектрометр рентгенофлуоресцентный для неразрушающего элементного анализа образцов

Производитель:
EDAX Flag
Госреестр СИ:
внесен

Мощный рентгенофлуоресцентный спектрометр, сконфигурированный для максимизации возможностей анализа широкого диапазона типов и размеров образцов.

Задать вопрос
Цена с НДС:
По запросу
Доставка по всей России бесплатно
Подробнее о доставке здесь
  • Детальное описание
  • Тех.характеристики
  • Оплата и доставка
  • Демонстрация

Основные сведения о спектрометре ORBIS MICRO-XRF для неразрушающего элементного анализа образцов

Спектрометр рентгенофлуоресцентный ORBIS MICRO-XRF компании EDAX – анализатор для улучшенного неразрушающего элементного анализа образцов засчет повышенной чувствительности и большей гибкости. Серия реализована в формате настольных приборов либо с монокапиллярной рентгеновской оптикой, либо с поликапиллярной оптикой сверхвысокой интенсивности, для удовлетворения широкого спектра аналитических потребностей. 

Спектрометр ORBIS MICRO-XRF прост в эксплуатации, предлагает широкий спектр функций повышения производительности и разработан для размещения различных типов образцов и форм из разных источников. Элементы конструкции, такие, как: источники рентгеновского излучения, оптика и детекторы гарантированно обеспечивают превосходные аналитические результаты для широкого спектра применений. 

Благодаря проникающей способности рентгеновских лучей и большему размеру пятна спектрометры Orbis лучше подходят, чем сканирующие электронные микроскопы, для образцов с более крупными характеристиками. Мощное и простое в использовании программное обеспечение EDAX обеспечивает точный элементный анализ.


Модельный ряд ORBIS MICRO-XRF

Спектрометр Orbis MICRO-XRF доступен в двух стандартных моделях: Orbis MC Analyzer (для приложений, требующих анализа крупных частиц или крупных объектов) и Orbis PC Analyzer (для анализа небольших образцов или проведения более быстрых измерений). EDAX предлагает ряд дополнительных опций для каждой модели. Эти две модели охватывают широкий спектр применений, где требуется высокоточный неразрушающий элементный анализ. Программное обеспечение Orbis Vision доступно на обеих моделях.

Особенности спектрометра ORBIS MICRO-XRF

  • Неразрушающий анализ образцов при минимальной пробоподготовке, возможность работы в режимах низкого вакуума и условиях окружающей среды;

  • Большая вакуумная камера для образцов с увеличенной рабочей дистанцией позволяют исследовать широкий спектр образцов со сложной топографией без каких-либо потерь интенсивности сигнала;

  • Уникальная моторизированная головка с интегрированной видео- и рентгеновской оптикой предоставляет возможность проводить коаксиальный рентгеновский анализ и получать оптическую информацию об образце для его максимально точного позиционирования без ущерба для качества видео (дополнительные коллиматоры 1 мм и 2 мм рентгеновской оптики способствуют оптимальной аналитической гибкости);

  • Программно выбираемая система фильтрации первичного пучка из шести фильтров обеспечивает повышенную чувствительность анализа и удаляет спектральные артефакты (устраняет характерные линии трубки, уменьшает тормозное излучение и устраняет пики брэгговской дифракции в целевых спектральных областях);

  • Комплексное программное обеспечение Orbis Vision обеспечивает широкий спектр качественного и количественного анализа образцов с широкими возможностями хранения и обработки данных (предоставляет инструменты и простые в использовании решения для широкого спектра аналитических приложений в далеко идущих отраслях).

Преимущества спектрометра ORBIS MICRO-XRF

Спектрометр ORBIS MICRO-XRF - это интегрированная система, сконфигурированная для максимизации возможностей анализа для широкого диапазона типов и размеров образцов. Минимальная пробоподготовка, покрытие не требуется. Одновременное многоэлементное рентгеновское обнаружение с чувствительностью к анализу от частей на миллион до 100% концентраций. Доступен как элементный анализ небольших образцов, таких как частицы, фрагменты и включения, так и автоматизированный многоточечный анализ и анализ изображений для больших образцов со всеми преимуществами и простотой анализатора XRF.

1. Универсальный дизайн револьверной головки

  • Позволяет автоматически выбирать до трех разных размеров рентгеновских лучей;

  • Предоставляет больший диапазон аналитических размеров пятна, позволяя пользователю выбрать размер пятна, наиболее подходящий для конкретных требований анализа;

  • Предоставляет коаксиальное видео с высоким увеличением и форму-рентгеновских лучей.

2. Рабочее расстояние

Большее рабочее расстояние между датчиком безопасности и аналитическим положением предотвращает потерю интенсивности и чувствительности сигнала при изменяющейся топографии образца и обеспечивает простое качественное и количественное сравнение спектров.

3. Нормальный рентгеновский луч / геометрия видео

  • Обеспечивает точное наведение образца и простую визуализацию траектории рентгеновского луча в поле зрения коаксиального видео.

  • Устраняет ошибочный сигнал из-за обструкции косого рентгеновского луча с помощью топографии образца.

  • Адаптирует более широкий диапазон геометрий и типов образцов безотносительно размещения образца и относительно пути луча рентгеновского излучения.

4. Первичные фильтры лучей

Orbis позволяет применять фильтры со всей фокусирующей и коллимирующей рентгеновской оптикой для улучшения пределов обнаружения за счет уменьшения рассеяния тормозного излучения, удаления характерных линий трубки и/или устранения дифракции Брэгга. Фильтры расположены между трубкой и рентгеновской оптикой, что исключает нежелательное рассеяние рентгеновского пучка на образце.

5. Рентгеновская оптика

В линейке продуктов Orbis можно использовать различные коллиматорную и рентгеновскую оптику с полным отражением. В стандартном спектрометре Orbis Micro-XRF для создания полупараллельного пучка используется монокапиллярная оптика малого размера. В качестве опции, к револьверной головке могут быть добавлены большие точечные коллиматоры для расширения возможностей инструмента. Коллиматоры с большими пятнами полезны для создания однородного пучка на большей площади, для анализа более крупных элементов образца и объемов образца (например, порошков и гранулятов) или быстрого картирования для охвата больших областей, где рентгеновский луч слишком мал. В спектрометре Orbis PC Micro-XRF поликапиллярная оптика сверхвысокой интенсивности используется для генерации высокочувствительного сходящегося микро-точечного рентгеновского пучка. Коллиматоры большого размера также могут быть добавлены в револьверную головку в качестве опции с поликапилляром.

6. Быстрая установка по XYZ

В серии продуктов Orbis используются новейшие пьезоэлектрические каскады для управления осями X, Y для быстрого перемещения образца, а также шаговый двигатель на оси Z для обработки более массивных образцов.

Области применения спектрометра ORBIS MICRO-XRF

1.       Промышленность – например, измерение и исследование содержания металлов в продукции для соответствия ROHS

Анализ содержания ограниченных и/или запрещённых к распространению материалов и химических элементов в различной продукции становится крайне важным направлением. Европейский закон, в той или иной фирме принятый очень многими странами, запрещает использование ртути, свинца, кадмия, шестивалентного хрома и брома в бытовой электронике и других приборах. Микро-XRF анализ позволяет определить уровень содержания Hg, Pb и Cd, и оценить компоненты со значительным содержанием Cr и Br, которые должны отправиться на дополнительные анализы.

2.       Неразрушающий контроль – например, измерение культурных артефактов, исследование метеоритов

3.       Криминалистика – спектральный анализ вещественных доказательств при экспертизе

Измерение элементов: от Na до Bk
Рабочая среда: воздух / низкий вакуум
Размер пятна излучения: 300 мкм или 100 мкм

 

  • Оформление заказа
  • Доставка
  • Техподдержка
masyuk.jpg
  • Отправьте запрос на сайте через форму обратной связи «ЗАКАЗАТЬ». Укажите необходимое количество товара и нужный способ доставки, любые другие детали запроса.
  • Отправьте запрос на e-mail am@sernia.ru с темой «Запрос на оборудование», указав необходимое количество товара, сроки и способ доставки, любые другие детали запроса.
  • Позвоните  по телефону  +7 (495) 204-13-17 или  8 (800) 301-13-17 (бесплатный звонок для регионов), доб. 203, контактное лицо - Масюк Алексей Владимирович.

Варианты доставки оборудования:

Доставка SERNIA
  • Доставка транспортной компанией СПСР-экспресс до двери получателя. Стоимость доставки включается в счет;
  • Доставка любой другой транспортной компанией (до двери или до терминала ТК в вашем городе). Оплата доставки осуществляется при получении;
  • Самовывоз (Москва, Воробьевы Горы, Физический факультет МГУ,1, стр.2);
  • Доставка курьером по Москве и ближнему Подмосковью. Стоимость доставки включается в счет.

Сомневаетесь в выборе прибора? Проконсультируйтесь с нашим специалистом по измерительному оборудованию!

kolybin.jpg
  • На все вопросы Вам ответит инженер департамента измерительных комплексов Колыбин Станислав Игоревич.
  • Свяжитесь с ним по тел. +7 (495) 204-13-17 или
  • Отправьте письмо на e-mail: info@sernia.ru с указанием темы «Тех. консультация».
  • В письме укажите Ваш контактный телефон. Инженер свяжется с Вами в течении 1 часа.