Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Электронная микроскопия

предыдущий следующий
17 Декабря 2015

В электронной микроскопии изображение получают с помощью электронов, прошедших сквозь объект, либо отраженных от него, либо им испущенных. Электронные пучки формируются электронно-оптическими системами с использованием магнитных или электростатических линз. Изображение фиксируется на люминесцентных экранах, фотопленке или иных чувствительных к электронам детекторах с возможностью запоминания, усиления, вывода на видеосистемы.

Основные особенности метода следующие:

а) возможность получения особо большого увеличения и высокого разрешения вплоть до атомного при прямом наблюдении объекта;

б) прямая электронно-оптическая информация об объекте (изображение) может быть дополнена рядом других данных, основанных на физике взаимодействия электронов с веществом, в частности электронной дифракцией. Кристаллографические и иные характеристики дефектов структуры могут изучаться с помощью анализа дифракционного контраста изображения;

в) возможность изучения химического (элементного) состава образца по точкам с помощью спектрального анализа его рентгеновского излучения, возбуждаемогоэлектронным пучком;

г) широкие возможности воздействия на объект в процессе наблюдения (нагрев, деформирование, облучение, намагничивание и т.п.). Возможность наблюдения динамики процессов и фиксирования их с помощью киносъемки или видеозаписи;

д) возможности наблюдения рельефа поверхности и анализа катодолюминесценции, в особенности в растровой электронной микроскопии.

А.С.Илюшин, А.П.Орешко. Введение в дифракционный структурный анализ. М.: физический факультет МГУ, 2008