Соединяя
науку и технологии
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17
office@sernia.ru

Атомно-силовой микроскоп Nano-Observer CSI

Атомно-силовой микроскоп Nano-Observer CSI

Атомно-силовой микроскоп Nano-Оbserver - ваш мощный помощник для проведения исследований

Атомно-силовой микроскоп Nano-Observer CSI - это гибкий и мощный инструмент для нанотехнологий. Спроектированный с использованием новейших технологических решений микроскоп Nano-Observer AFM сочетает в себе большие исследовательские возможности и простоту использования. Система комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей.

Система использует низкошумящий лазер и предварительную юстировочную систему, что облегчает получение достоверных изображений высокого качества с помощью различных методик АСМ.

Компактный микроскоп Nano-Observer AFM будет полезен в работе как начинающим исследователям, так и опытным пользователям. Режим предпросмотра образца и высокий уровень автоматизации позволяют быстро и удобно получать данные об образце на атомном уровне.

Nano-Observer

Диапазон сканирования 3 мкм х 3 мкм, графен;  5 мкм х 5 мкм, пленка SrTiO;  150 нм x 150 нм, молекулы С36 на HOPG

Contrast


Топография и фазовые сигналы, полимеры (PDES)                                                     Топография и фазовые сигналы, графен 

Области применения

  • Исследования материалов и покрытий
  • Исследование полимеров
  • Изучение электрических свойств образцов
  • Микроэлектроника
  • Исследование «мягкого вещества»
  • Биология

Nano-Observer CSI - максимальный результат за минимальные вложения

Электрические измерения: режимы HD-KFM, ResiScope, ResiScopeII, SoftResiScope

Бюджетная модель: максимальный результат за минимальные вложенияя

Контроль параметров среды: газа, влажности, температуры, биологические исследования

Легкость в управлении: видео камера для определения местоположения, вид сбоку, интуитивный интерфейс

Высокое разрешение, четкий контраст изображения: 0.06 нм по осям X-Y, 0.006 нм по оси Z

5 дополнительных модулей для расширения возможностей исследования: EFM, MFM, FMM, PFM, Conductive AFM

 

Модули для электрических измерений

    HD-KFM (Kelvin Force Microscopy) - поверхностная потенциальная микроскопия
    • Картирование поверхности
    • Сверхвысокая чувствительность и высокое пространственное разрешение
    ResiScope - модуль для контактных АСМ экспериментов
    • Resiscope - это модуль для проведения контактных АСМ экспериментов. При помощи проводящего зонда считываются изменения токов и сопротивлений на большом поле зрения при подключении внешнего усилителя. Токовые характеристики можно снимать во всех участках образца.
    • The ResiScope II - это система получения данных об электрическом сопротивлении образца с большим разрешением. Этот модуль можно комбинировать с другими модулями: MFM/EFM (AC/MAC) и KFM (AC/MAC III) для получения различной информации от одного и того же участка образца. Измерения проводятся за счет подачи потенциала между образцом и проводящей головкой зонда.
    Модуль Soft ResiScope - модуль для измерения токовых характеристик
    • Soft ResiScope - это динамический контактный модуль, который позволяет проводить контактные эксперименты, не повреждая поверхность образца.
    • Модуль позволяет изучать органические фотоэлементы, проводящие полимерные структуры и биологические объекты.

Другие модули

    Магнитно-силовая микроскопия (Magnetic Force Microscopy, MFM)
    • Получение топографической информации от исследуемого объекта происходит в результате сканирования поверхности магнитной головкой
      Проводящая атомно-силовая микроскопия (Conductive Microscopy)
      • При использовании этого модуля проводящая головка считывает отклонения тока на поверхности образца и усиливает их. Кривые тока\напряжения могут быть построены для различных областей образца.
        Метод модуляции силы
        • В процессе реализации данной методики образец сканируется постоянной осциллирующей головкой, при таком периодическом движении кантилевер снимает данные о рельефе поверхности образца.

          Качественные измерения

          • При помощи низкощумящего лазера микроскоп Nano Observer может получать изображения высокого разрешения с высокой степенью надёжности.
          • Высокое разрешение, четкий контраст изображения
          Патентованный столик образцов Flexstage
          • Точность перемещения и низкий дрейф
          • Перемещение по трем независимым осям
          • Получение атомарного и молекулярного разрешения на полях зрения до 100 микрон
          • Разрешение сканирования: 0.06 нm по осям X-Y, 0.006 нм по оси Z

        Контроль параметров среды

        Защитный кожух для контроля температурных параметров
        • Защищает от загрязнения и окисления образца
        • Стабильные условия для проведения электрических экспериментов
        Модуль контроля температуры
        • Помимо контроля температурных параметров есть возможность изменять температуру образца в широком диапазоне температур: от комнатной до 200°C. Это позволяет изучать явления фазовых переходов, например, для полимерных или биологических образцов.
        Режим измерения жидкостей
        • Микроскоп может быть оборудован комплектом для проведения измерений на жидких образцах.