Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

FALIT DUO - новая система лазерной декапсуляци от производителя Control Laser

FALIT™ - новая настольная система лазерной декапсуляции от компании Control Laser

FALIT (произносится “F-A-Light”) был специально разработан для лабораторий анализа отказов полупроводников. Система включает в себя стандартные методы тестирования для решения проблем, с которыми сталкиваются каждый день технологи в полупроводниковой промышленности.

FALIT использует запатентованный лазерный процесс с множеством лазерных конфигураций и длин волн для обеспечения четкого и точногох процесса для каждого типа применения.

Основным преимуществом системы FALIT является тот факт, что она предлагает более безопасные, более быстрые и точные методы для анализа отказов по сравнению с химической декапсуляцией.

Возможное применение системы FALIT:

  • декапсуляция интегральных микросхем,
  • удаления геля,
  • кросс-секционирование и вскрытие корпуса компонент,
  • удаление компаунда,
  • вскрытие проволочных соединения без ущерба для других компонент.

Особенности и преимущества системы:

  • Встроенный затвор во избежание потенциального воздействия на человека лазерного излучения.
  • Интерфейс программного обеспечения FALIT™ идет в комплекте оборудования.
  • Полнофункциональный, графический интерфейс для анализа отказов.
  • Модульная система, конфигурируется в соответствии с задачами клиента.
  • Безопасная система, не использует для декапсуляции кислоты.
См.подробную информацию о системе FALIT >>

Если Вас заинтересовало данное оборудование, обратитесь к нашим специалистам. Они ответят Вам на все вопросы, а также проведут демонстрацию оборудования. Присылайте Ваши вопросы на e-mail: pk@sernia.ru.
Записаться на демонстрацию оборудования>>