Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)

Выбрать Производителя
Выбрать Полосу пропускания
Выбрать Длину записи
Выбрать Серия
Выбрать Типы анализаторов спектра
Выбрать Аналитические возможности
Выбрать Тип микроскопа
Выбрать Аналоговые каналы
Выбрать Цифровые каналы
Выбрать Частоту дискретизации
Выбрать Встроенный анализатор спектра
Выбрать Категорию
Количество на странице:
20
Сканирующая электронная микроскопия, СЭМ или Растровая электронная микроскопия, РЭМ (Scanning electron microscopy, SEM) является одним из наиболее широко используемых для диагностики наноматериалов и наноструктур методов. Предел разрешения сканирующего электронного микроскопа приближается к нескольким нанометрам, а увеличение легко варьируется от ~10 до более 300000. СЭМ не только предоставляет сведения о топографии поверхности, как обычные оптические микроскопы, но и обеспечивает информацией о химическом составе приповерхностной области