Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)

Выбрать Производителя
Выбрать Категорию
Количество на странице:
20
Сканирующая электронная микроскопия, СЭМ или Растровая электронная микроскопия, РЭМ (Scanning electron microscopy, SEM) является одним из наиболее широко используемых для диагностики наноматериалов и наноструктур методов. Предел разрешения сканирующего электронного микроскопа приближается к нескольким нанометрам, а увеличение легко варьируется от ~10 до более 300000. СЭМ не только предоставляет сведения о топографии поверхности, как обычные оптические микроскопы, но и обеспечивает информацией о химическом составе приповерхностной области