Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)

Выбрать Производителя
Выбрать Полосу пропускания
Выбрать Длину записи
Выбрать Серия
Выбрать Типы анализаторов спектра
Выбрать Аналитические возможности
Выбрать Тип микроскопа
Выбрать Аналоговые каналы
Выбрать Цифровые каналы
Выбрать Частоту дискретизации
Выбрать Встроенный анализатор спектра
Выбрать Категорию
Количество на странице:
20
Просвечивающая электронная микроскопия, ПЭМ (Transmission electron microscopy,ТЕМ).
В просвечивающей электронной микроскопии электроны ускоряются до 100 кэВ или выше (до 1 МэВ), фокусируются на тонкий образец (толщиной менее 200 нм) с помощью конденсорной линзовой системы и проходят через образец либо отклоняясь, либо не отклоняясь. Основными преимуществами ПЭМ являются высокое увеличение, в пределах от 50 до 106, и ее способность получать как изображение, так и дифракционную картину с одного и того же образца