Verios XHR SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп экстра высокого разрешения

Verios XHR SEM Thermo Fisher Scientific - СЭМ экстра высокого разрешения

Новый электронный микроскоп Verios XHR SEM Thermo Fisher Scientific - это электронный микроскоп с экстремально высоким разрешением. Verios SEM является новым поколением сканирующих микроскопов, обеспечивающих субнанометровое разрешение при ускоряющем напряжении от 1 кВ до 30 кВ с исключительным контрастом изображения. Чрезвычайная функциональность при низковольтном напряжении обеспечивает исключительную точность информации о свойствах поверхности, которая была ранее недоступна при использовании других технологий.

Расширение возможностей сканирующей электронной микроскопии

На рынке полупроводников и хранения данных уникальные характеристики Verios значительно расширяют возможности растровой электронной микроскопии до 22 нм и ниже, предлагая полное решение для фундаментальных исследований, разработки процессов и материалов, контроля процессов и анализа отказов.

Система дает точные и воспроизводимые результаты измерений даже для сверхчувствительных материалов. В комбинации с метрологическим программным обеспечением FEI, Verios обеспечивает точность измерений, необходимую для контроля процессов развития технологий. Verios предлагает лучшую производительность без ущерба высокой пропускной способности, гибкости образцов и простоты традиционной сканирующей электронной микроскопии.

Характеристики Verios XHR SEM Thermo Fisher Scientific